透射电镜与扫描电镜原理的异同点
现如今，具有高分辨率的透射电镜(TEM)和扫描电镜(SEM)在材料分析研究中的应用日趋广泛，已经成为现代实验室中一种不可或缺的研究晶体结构和化学成分的综合仪器。
透射电镜与扫描电镜原理
透射电镜原理：
电子枪经过加热或者在强电场作用下发射出电子束，经过聚光镜汇聚到待测样品的某一区域。透过样品的电子强度分布与样品的组织结构一一对应。荧光屏将电子强度分布转换为人肉眼可见的光强分布。
由于物体上不同部位的结构不同，它们散射电子的能力也各不相同，结果使透过样品的电子束发生疏密的差别，在散射电子能力强的地方，透过去的电子数目少，因而打在荧光屏上所发出的光就弱，显现为暗区;而散射电子能力弱的地方，透过的电子数目多，打在荧光屏上所发出的光就强，显现为亮区，这样，便在终像上造成了有亮有暗的区域，因而出现了反差，人眼就可以辨别。
扫描电镜原理：
扫描电镜从电子枪中发射出的电子束，受到阳极高压加速射向镜筒，经过聚光镜聚焦，在样品表面形成一个具有一定能量、强度、斑点直径的电子束。在扫描线圈的磁场作用下，入射电子束在样品表面上按照一定的空间和时间顺序做光栅式逐点扫描。
在样品表面激发出次级电子，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子束同步的扫描图像。试样表面信号强度与显像管荧光屏亮度一一对应。次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样品的表面结构有关。图像为立体形象，反映了标本的表面结构。为了使标本表面发射出次级电子，标本在固定、脱水后，要喷涂上一层重金属微粒，重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。
透射电镜与扫描电镜原理区别
1、利用的电子种类不同。任何一个物体都是由原子组成的，原子则是由原子核与轨道电子组成的。当电子束照射到样品上的时候，一部分电子能从原子与原子之间的空隙中穿透过去，其余的电子有一部分会与原子核或原子的轨道电子发生碰撞被散射开来;一部分电子从样品表面被反射出来;还有一些电子是被样品吸收以后，样品激化而又从样品本身反射出来等。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。
2、成像原理不同。扫描电镜的成像原理和透射电镜完全不同。扫描电镜不是通过电磁透镜放大成像的原理，扫描电镜的成像原理与电视或电传真照片的原理相似，由电子枪产生的电子束经过三个磁透镜的作用，形成一个很细的电子束，称为电子探针。电子探针经过透镜聚焦到样品表面上，按着顺序逐行逐行地通过样品，也就是对样品扫描，然后把从样品表面发射出来的各种电子(二次电子、反射电子等)用探测器收集起来，并转变为电流信号经放大后再送到显像管转变成图像。
3、观察得到的图像不同。扫描电镜主要用来直接观察样品表面的立体结构，图像富有立体感，但只能反映出样品的表面形貌，无法显示样品内部的详细结构。透射电镜可以观察样品内部结构，但是一般只能观察切成薄片后的二维图像，许多电子无法透过的较厚样品，只能用扫描电镜才能看到。
4、分辨率及其决定条件不同。扫描电镜分辨力可达10nm，分辨率主要决定于样品表面上电子束的直径。放大倍数是显像管上扫描幅度与样品上扫描幅度之比，可从几十倍连续地变化到几十万倍。透射电镜的分辨力很高，分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～几十万倍。分辨率由电子束波长所决定，在透射电镜中，被观察粒子的大小一定要大于电子束的波长才能被分辨出来，否则，电子束就会发生绕射，无法看到粒子。
5、样品制备要求不同。扫描电镜所用样品的制备方法简便，电子束不穿过样品，所以不需经过超薄切片，经固定、干燥和喷金后即可。但是透射电镜由于电子束穿透样品的能力低，因此要球所观察的样品非常薄。透射电镜电子需要穿过样本，由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，必须制备超薄样品切片。
6、扫描电镜的样品的辐射损伤及污染程度小，但透射电镜样品会较大程度被破坏。
7、扫描电镜与透射电镜都是通过电子束与样品作用，从而研究样品结构的，他们都包含电子枪、真空系统、电磁透镜等部件。电子的信号都可以采用闪烁计数器来进行检测。都是用荧光屏来将电子信号转换为肉眼可见的光信号。
全部评论(0条)
推荐阅读
-
- 透射电镜与扫描电镜原理的异同点
- 现如今，具有高分辨率的透射电镜(TEM)和扫描电镜(SEM)在材料分析研究中的应用日趋广泛，已经成为现代实验室中一种不可或缺的研究晶体结构和化学成分的综合仪器。
-
- 扫描电镜与透射电镜的区别
- 电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。其中，两种主要的电子显微镜是透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）。
-
- 透射电镜和扫描电镜的区别
- 现如今，具有高分辨率的透射电子显微镜（TEM）和扫描电镜（SEM）在材料分析研究中的应用日趋广泛，已经成为现代实验室中一种不可或缺的研究晶体结构和化学成分的综合仪器。
-
- 透射电镜教程：深入了解透射电镜的工作原理与应用
- 透射电镜作为一种高精度的科研仪器，广泛应用于材料学、生命科学、纳米技术等领域。其高分辨率的成像能力使其成为科研工作者进行微观结构分析的重要工具。
-
- 透射电镜的原理|结构
- 透射电镜，全称透射电子显微镜。是利用高能电子束充当照明光源而进行放大成像的大型显微分析设备，透射电镜是一种具有高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器，被广泛应用于材料科学等研究领域。
-
- 扫描电镜的原理|发展
- 扫描电镜全称扫描电子显微镜（ＳＥＭ），是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
-
- 透射电镜成像原理
- 透射电镜，全称透射电子显微镜，是用于观察组织细胞超微结构的大型精密电子仪器，已广泛应用于医学、生物学等各个研究领域，成为研究细胞生物学、组织学、病理学、解剖学以及临床病理诊断的重要工具之一。
-
- 透射电镜工作原理
- 透射电镜全称透射电子显微镜。是利用高能电子束充当照明光源而进行放大成像的大型显微分析设备，透射电镜是一种具有高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器，被广泛应用于材料科学等研究领域。
-
- 扫描电镜工作原理
- 扫描电镜（SEM）是一种广泛应用于材料科学、生命科学、电子工业等多个领域的高精度检测工具。它通过电子束扫描样品表面，获得高分辨率的图像，能够揭示物质的微观结构。
-
- 扫描电镜成像原理
- 扫描电镜即扫描电子显微镜（SEM）。主要用于观察样品的表面形貌、割裂面结构、管腔内表面的结构等。是利用电子射线轰击样品表面，引起二次电子等信号的发射，经检测装置接收后成像的一类电镜。
-
- 扫描电镜工作原理
- 扫描电镜全称扫描电子显微镜，是一种大型精密仪器，它是机械学、光学、电子学、热学、材料学、真空技术等多门学科的综合应用。
-
- 扫描电镜标准：如何确保扫描电镜操作与应用的精确性与一致性
- 扫描电镜（SEM）是一种广泛应用于材料科学、生命科学、电子工业等多个领域的高精度检测工具。它通过电子束扫描样品表面，获得高分辨率的图像，能够揭示物质的微观结构。
-
- 透射电镜参数：理解与应用
- 透射电镜作为一种高精度的科研仪器，广泛应用于材料学、生命科学、纳米技术等领域。其高分辨率的成像能力使其成为科研工作者进行微观结构分析的重要工具。
-
- 透射电镜的发展
- 透射电镜（TEM）是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。
-
- 透射电镜的电子衍射
- 透射电镜的电子衍射是透射电镜的一个重要应用，而透射电镜广泛应用于断裂失效分析、产品缺陷原因分析、镀层结构和厚度分析、涂料层次与厚度分析、材料表面磨损和腐蚀分析、耐火材料的结构与蚀损分析中。
-
- 透射电镜的应用
- 透射电镜是用于观察组织细胞超微结构的大型精密电子仪器，已广泛应用于医学、生物学等各个研究领域，成为研究细胞生物学、组织学、病理学、解剖学以及临床病理诊断的重要工具之一。
-
- 透射电镜的用途
- 透射电镜全称透射电子显微镜，是用于观察组织细胞超微结构的大型精密电子仪器。透射电镜广泛应用于工农业生产、材料学、考古学、生物学、组织学、病毒学、病理学和分子生物学等研究领域中。
-
- 透射电镜的性能指标
- 透射电镜，全称透射电子显微镜，是用于观察组织细胞超微结构的大型精密电子仪器，已广泛应用于医学、生物学等各个研究领域，主要性能指标有分辨率，放大倍数，加速电压等。
-
- 透射电镜的常见问题
- 透射电镜是贵重的精密设备，正确的使用与维护才能使其发挥出应有的性能。总之，要想拍出高质量的透射电镜照片，制样是基础。同时，透射电镜的状态也很关键。最后，技术人员的操作水平也是至关重要的。
-
- 异频介质损耗测试仪教程
- 随着电子产品性能的不断提升，对介质损耗的要求也越来越严格，测试仪的度和稳定性成为关键因素。本文将详细介绍如何使用异频介质损耗测试仪进行有效测试，帮助用户准确测量介质损耗，并为进一步提高产品质量提供理论支持和技术保障。
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布，观点仅代表作者本人，不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益，请及时告诉,我们立即通知作者，并马上删除。
②凡本网注明"来源：仪器网"的所有作品，版权均属于仪器网，转载时须经本网同意，并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益，请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱：hezou_yiqi
沪公网安备 31011502008050号
参与评论
登录后参与评论