小角X射线散射仪在高分子材料中的应用
小角X射线散射为一种与X射线大角（2θ从5 ～165 度）衍射有所不同的结构分析方法。通过X射线对样品进行照射，相应的散射角2θ比较小，只有5-7度，此就称为X射线小角散射。对粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布加以测定以及对分析特大晶胞物质的结构进行分析，即为X射线小角散射的用途。对于高分子材料而言，能够测量玻璃化转变温度，能够分析共混的高聚物相结构以及能够对高分子粒子或空隙大小和形状进行测量。
在高分子材料中的应用
小角X射线散射现象普遍存在于天然的和人工合成的高聚物中，并且特征也较多且不尽相同。在高分子中，小角X射线散射主要具有如下几个方面的应用：
在天然的和人工合成的高聚物中，普遍存在小角X射线散射现象，并有许多不同的特征。小角X射线散射在高分子中的应用主要包括以下几个方面：
（1）对高分子体系中片晶的取向、厚度、结晶百分数以及非晶层的厚度等进行长周期的测定。
（2）高分子体系中的分子运动和相变
（3）高分子多相体系的相关长度、界面层厚度和总表面积等通过Porod－Debye相关函数法进行研究
（4）高分子的分子量通过对jue对强度的测量来进行测定。
（5）高分子胶中胶粒的形状、粒度以及粒度分布等通过Guinier散射来进行测定
（6）结晶高分子中的晶粒、共混高分子中的微区（包括分散相和连续相）、高分子中的空洞和裂纹形状、尺寸及分布等通过Guinier散射进行研究
1.离聚体
离聚体指的是有少量离子的聚合物存在于共聚物中。因为离子化的侧基在高分子链上存在着，能够使离子聚合体形成，从而使此类聚合物具有的结构和性能都十分的独特。在嵌段共聚物、胶体高分子溶液以及生物大分子等研究领域也能够使用小角X射线散射技术。用来对分子量、粒子旋转半径以及形变和取向等进行测量。
2、结晶聚合物
所谓结晶聚合物，事实上指的是部分结晶，其结晶度通常低于一半。小角X射线散射研究发现，高结晶度的线性聚乙烯、聚甲醛和聚氧化乙烯等聚合物的散射曲线尾部对Porod定理服从，使得近似于理想两相结构表明了出来。然而大部分结晶度较低聚合物的散射曲线显示，尾部迅速降低，和尾部迅速降低，偏离，表面有过渡层存在于晶相与非晶相之间。
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