X射线散射仪的原理

X光散射技术为一系列比较常用并且没有破坏性的分析技术，能够用来对物质的晶体结构、化学组成以及物理性质进行揭示。通过对X射线穿过样品后的散射强度加以观测作为这些技术的基础，并且实验结果的分析按照散射角度、极化度和入射X光波长来进行。X光散射技术能够在不同压力或者不同温度等各种不同条件下进行分析。X射线散射仪是基于X光散射技术的仪器。

原理

X射线散射为当X射线与物质相互作用时，X射线既有被物质吸收生物可能性，也有被物质散射的可能性。在散射的现象中，当散射线波长等于入射线相同时，相位滞后保持不变，散射线之间可以相互干涉，叫做相干散射。

相干散射波之间有相互干涉产生，就能够使衍射获得，因此x射线衍射技术是基于相干散射的。

当非弹性碰撞发生于入射x射线光子与原子中束缚较弱的电子(如外层电子)之间时，光子会有一部分能量消耗转化为电子的动能，于是电子从原子内被撞出，同时将能量降低、波长变长的非相干散射或康普顿(Compton)散射发出。由于其在各个方向上分布着，波长会变长，相位与入射线之间的关系不固定，所以相互干涉不会产生，衍射也就不能够产生，仅仅会变成衍射谱的背底，会影响到衍射分析工作，会对其产生干扰和不利。

散射技术分类

非弹性散射

相关的散射技术在非弹性散射的X射线的能量和角度被监测时能够用来对物质的能带结构进行探测。

（1）X射线拉曼散射。

（2）共振非弹性X射线散射。

（3）康普顿散射。

弹性散射

就算是非晶态物质（非长程有序）的研究，也可能能够适用对单色性X光的弹性散射较为依赖的方法。

（1）广角X射线散射：

测量散射角2θ比5度要大。

（2）X射线反射率：

用来对单层或多层薄膜的厚度、粗糙度和密度进行分词以及测定。

（3）小角X射线散射：

在散射角2θ和0度比较接近的时候，为了使纳米到微米量级上的分子结构信息获取，从而测量样品的X射线散射强度。