X射线定向仪的发展

X射线定向仪是对单晶体的各晶面在空间相互排列角度进行精密测定的一种光学检测仪器。

发展：

1895年，X射线被德国科学家伦琴发现，1912年X射线干涉现象被德国科学家劳厄发现了，同一年，著名的布拉格方程:nλ=2dsin被英国科学家布拉格父子发表了出来。从而X射线衍射基础得到了奠定。后来Ⅹ射线及其衍射原理被利用来定向与测量单品材料，并且发展成专用仪器。经过40年的时间，现在已经发展到第三代。

1、普通精度单晶衍射型

普通精度单品衍射型X射线定向仪，±30"为其测量的精度。射线探测器、测角仪、样品测试台、准直狭缝、滤片、Ⅹ射线管以及高压发生器等共同构成了普通精度单品衍射型X射线定向仪。为了对大部分单晶材料晶面间距值范围进行适应，X射线管几乎均使用铜靶，滤片使用镍来对Kβ谱线及连续谱进行消除。该仪器在定向与测量光纤通讯晶体、激光晶体、硅锗单晶水晶以及其它各种单晶材料方面得到了非常广泛地使用。

2、高精度双晶衍射型

高精度双晶衍射型，±15"为其测量精度。一个单色器被增加在该类型仪器上，更加尖锐化,单色化射线管产生的Ka特征谱线，从而使测量精度得到提高为其的目的。与此同时，滤片也不需要增加。水晶的科研与生产为该种类型仪器所应用的行业。

3、自动化型

自动化型仪器采用计算机自动化控制，自动化处理测得的数据，有着较高的生产效率以及较好的重复性。