全反射X射线荧光光谱仪关于大气排放物检测

本文由 上海科学仪器有限公司 整理汇编

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  S2PICOFOX采用TXRF光谱法进行过滤器样品定性和定量分析过滤器材料的分析对于环境和健康风险研究至关重要。除了颗粒尺寸分布和有机污染物以外，无机成分，特别是重金属成分的浓度，也需要ZD关注。出于此目的，ICP-OES或AAS等方法经常使用，但是需要耗时较长的样品消化过程。与此对比，EDXRF系统可以实现无损分析，但是检测限值和外部标定的准确性受到限制。TXRF把EDXRF的无损样品制备和ICP-OES和AAS的灵敏性结合在一起，及时在分析过滤器沉积的极少量样品材料时，仍然灵敏。[详细]

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