韩国微先锋X射线测厚仪/荧光测厚仪XRF-2000

本文由 上海益朗仪器有限公司 整理汇编

2024-09-14 01:07 1184阅读次数

收藏 评价 举报

• 分享

立即下载

相关产品

参与评论

评论

登录后参与评论

登录或新用户注册

• 微信登录
• 密码登录
• 短信登录

请用手机微信扫描下方二维码
快速登录或注册新账号

微信扫码，手机电脑联动

注册登录即表示同意《仪器网服务条款》和《隐私协议》

账  号：

密  码：

图片码： 看不清？
换一张？

手机和邮箱号注册新账号>> 忘记密码？

手机号：

图片码： 看不清？
换一张？

短信码： 获取短信码

手机和邮箱号注册新账号>> 忘记密码？

更多资料

• 韩国微先锋X射线测厚仪/荧光测厚仪XRF-2000

  韩国微先锋X射线测厚仪/荧光测厚仪XRF-2000[详细]

  2024-09-14 01:07

  产品样册

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• Fischer-XRay-Product x射线荧光测厚仪

  Fischer-XRay-Product x射线荧光测厚仪[详细]

  2024-09-15 19:19

  产品样册

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• CMI900系列X射线荧光测厚仪详细说明

  CMI900系列X射线荧光测厚仪详细说明[详细]

  2024-09-15 19:19

  操作手册

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• X射线测厚仪的维护

  X射线测厚仪是一种非接触式厚度测量装置，可以实现连续实时的在线测量，是铝板带加工中广泛应用的关键检测设备。虽然国内有很多不同型号的X射线测厚仪，但其工作原理是一致的，主要的构成也大体相似。本文根据多年现场维护测厚仪的经验教训，简要介绍测厚仪的测量原理、硬件构成和维护要点。[详细]

  2024-09-15 19:19

  标准

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 微焦点X射线成像系统

  微焦点X射线成像系统[详细]

  2024-09-28 00:39

  应用文章

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• Hitachi X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪

  Hitachi X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪[详细]

  2025-08-11 11:12

  产品样册

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• X射线测厚仪校正标准片市场价格表

  X射线测厚仪校正标准片用于对X射线测厚仪进行检验和校准，不单适合用使用X射线测厚仪的用户，还可以适用于检测的第三方机构。本资料列举常规材质及常规厚度，如果需要特殊材质或特殊结构或特殊厚度，请联系上海益朗仪器有限公司的销售人员。[详细]

  2024-09-15 19:19

  产品样册

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 一种X射线测厚仪在线校正的方法

  X射线测厚仪的测量精度会受到诸多因素的影响，为了降低射线发生器射线强度变化对测量精度的影响，提出一种X射线测厚仪在线校正方法，改进了X射线测厚仪的硬件装置及软件程序，实现实时修正X 射线发生器射线强度对测量精度的影响，从而在不影响生产进度的同时，保证轧制带材的公差要求。[详细]

  2024-09-15 19:19

  标准

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 对珍珠的X射线微区分析(X射线分析显微镜)

  对珍珠的X射线微区分析(X射线分析显微镜)[详细]

  2024-09-17 01:56

  期刊论文

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 赛默飞 X射线冷轧测厚仪产品样册

  赛默飞 X射线冷轧测厚仪产品样册[详细]

  2016-10-18 14:42

  安装说明

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• X 射线测厚仪射源电压对测量的影响

  X射线测厚仪是板带钢轧制过程中质量控制的关键仪器，为了保持良好的测量精度及测量灵敏度，需要根据测量厚度设置合适的射源电压。但射源电压的设置往往根据工人的经验，缺少实际依据。文章选取了普通多项式拟合模型作为曲线标定的模型，讨论了不同厚度的钢板在不同射源电压下的测量精度及测量灵敏度，并给出了如何设定**射源电压的依据，具有广泛的应用价值。[详细]

  2024-09-15 19:19

  标准

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• X 射线测厚仪在热轧系统的常见故障分析

  介绍了 X 射线测厚仪的组成原理以及技术特点，对其应用过程中出现的一些问题提出解决方案。[详细]

  2024-09-15 19:19

  标准

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• X射线测厚仪测量精度的影响因素与维护

  本文就x射线测量精度的影响因素进行分析与论述，及其在x射线测厚仪在具体的使用过程中，应该采取什么样的措施进行维护，保障X射线测厚仪测量的极ng确度。[详细]

  2024-09-15 19:19

  标准

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 枪击残留物的X射线微区分析

  枪击残留物的X射线微区分析[详细]

  2010-03-23 00:00

  安装说明

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• 矿石应用-布鲁克微区X射线荧光

  Stateoftheartmicro-XRFappliedtogeologicalsamplesMicro-XRFongeologicalsamplesM4TornadoLargesamples(H×W×D:200mm×160mm×120mm)Powerfulsamplestage(100mm/s,5kg)Pre-VacuumconditionsfordetectionofelementsdowntoNaPolycapillaryopticsforhighexcitationintensityandspotsize＜25μmSDDsfordetection/processingofover100kcpsVariousmeasurementmodes(single-ormulti-point,linescans,areascans)Optional2ndX-raytubeOptional2nddetectorPositionTaggedSpectroscopy(HyperMap)Versatile"data-mining"softwareStandard-freequantificationScanoftheCetaceous/PaleogeneboundaryinRatonBasinUSThinsectionsmeasurements(64-bitOS)TraceelementsingarentThinsectionofagarentcontainingslateFullareamapshowssymmetricMncorewithinthecrystalsSelectedgarnetneasuredextensivelywithstrongprimaryfiltertoreducebackgroundandtoavoidBraggdiffractionpeaks370pixel×460pixel→170000pixelmapMeasurementtime:1s/pixelSteps:25μmSummaryUniquespeedandperfoimanceinthedeterminationoftheelementdistributioninlargesamplewithmeasurementtiomesperpixelof0.3msanduptp4MillionpixelsinasingleHyperMapHighspatialresolutiondownto25μmX-rayspotsize,motorsstepsof4μmOptimalfortheanalysisofinhomogeneoussamples,duetobetteridentificationoftherepresentativelocationofinterestNon-destructive,fastanalysisoflargesampleswithoutpreparation,includingsolid,poweroeliquidsamplesQualitativeandquantitativeanalysisofallelementsfromNaupwards,duetovacuumchamber,detectionlimitforheavytraceelementsinthelowppmrangeStandardlessFundamentalParameterquantificationwithtypecalibrationoptionPowerfulSoftwarewithmultipletoolsforoptimaldatamining[详细]

  2018-08-15 10:57

  产品样册

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• X光镀层测厚仪

  XRF2000镀层测厚仪检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...可测单层,双层,多层,合金镀层,测量范围:0.04-35um测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度全自动台面,操作非常方便简单XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。可测元素范围：钛（Ti）铀（U）原子序2292准直器：固定种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm自动种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能详细资料请电：13761400826[详细]

  2018-10-17 10:00

  产品样册

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• X射线成像仪

  产品资料[详细]

  2022-06-17 10:29

  标准

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• X射线探测

  X射线探测[详细]

  2024-09-13 17:06

  选购指南

  |

  • 
  • 
  • 
  • 

• X 射线测厚仪在安钢冷连轧中的应用

  通过对安钢1550冷连轧生产线中德国IMS公司的ZX线X射线测厚仪的使用状况，介绍了X射线测厚仪的特点、测量原理和系统组成。[详细]

  2024-09-15 19:19

  标准

  |

  • 
  • 
  • 
  •