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使用X光沉降粒度仪研究多孔粉末的粒径
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本文由 麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司 整理汇编
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使用X光沉降粒度仪研究多孔粉末的粒径
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使用X光沉降粒度仪研究多孔粉末的粒径
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使用X 光沉降粒度仪研究多孔粉末的粒径
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- XRF2000镀层测厚仪检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...可测单层,双层,多层,合金镀层,测量范围:0.04-35um测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度全自动台面,操作非常方便简单XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。可测元素范围:钛(Ti)铀(U)原子序2292准直器:固定种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm自动种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能详细资料请电:13761400826[详细]
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