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GB/T 2423.1-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温

本文由 武汉尚测试验设备有限公司 整理汇编

2018-10-08 10:00 1560阅读次数

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GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局和ZG国家标准化管理委员会2008年12月30号发布,GB/T2423.1-2008等同于国际标准IEC60068-2-1:2007.代替了GB/T2423.1-2001标准。GB/T2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。本低温试验的目的仅用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力,不能用来评价试验样品耐温度变化能力和在温度变化环境下的运行能力,在这种情况下,应采用GB/T2423.22。GB/T2423的本部分规定的低温试验可使用武汉尚测试验设备有限公司生产的低温恒定湿热试验箱来模拟试验的低温环境。低温恒定湿热试验箱用于检测材料在各种环境下性能的设备及试验各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。

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