X射线荧光镀层厚度测量仪 FT150 －硬件概要－

本文由 上海科学仪器有限公司 整理汇编

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• X射线荧光镀层厚度测量仪 FT150 －硬件概要－

  X射线荧光镀层厚度测量仪作为一种可高速、简便地对电子零件等的镀层，半导体工艺中的薄膜，以及汽车部件中各类工业产品表皮膜等的膜厚进行管理的仪器而被广泛应用。FT150利用多毛细管所产生的照射直径为30μm的高强度X射线光束，Z适于测量微小连接器、柔性电路板及导线架等微小零件及超薄镀层。◆通过优化X射线光束与检测器，与本公司以往机型相比，效率提高2倍（与本公司以往机型FT9550X相比）◆对装置设计进行了全面改进，查看样品室及测量位置的确认更加容易，大幅提高了操作性。◆产品线增加了FT150h，搭载了可测量超微部分的锡（Sn）及银（Ag）等的高能量元素的专用X射线发生系统。◆利用新开发的软件“XRFcontroller”，可提高用户管理设定、操作导航及大型图标的操作性，实现数据库的综合数据管理。此份资料中主要包括了FT150的硬件概要。[详细]

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