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使用分光光度法测量单晶光学材料的折射率
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使用分光光度法测量单晶光学材料的折射率
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使用分光光度法测量单晶光学材料的折射率
- 使用分光光度法测量单晶光学材料的折射率[详细]
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2020-12-25 11:07
应用文章
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使用配备 UMA 附件的 Cary 5000 测量折射率薄膜厚度
- 使用配备 UMA 附件的 Cary 5000 测量折射率薄膜厚度[详细]
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2024-09-28 10:42
应用文章
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应用案例IAS15006易挥发样品折射率测量的解决方案
- 应用案例IAS15006易挥发样品折射率测量的解决方案[详细]
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2015-04-20 00:00
专利
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应用案例IAS15008深色样品折射率测量
- 应用案例IAS15008深色样品折射率测量[详细]
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2015-07-07 00:00
安装说明
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使用 Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 测量光学材料不同入射角下的反射率 — 考察小型显示器的性能
- 视觉显示器小型化和节能化的趋势带来了设备移动性的提高,促使其在日常生活应用中的快速普及。基于发光二极管 (LED) 和液晶显示器 (LCD) 技术的光学显示器在工业和家用领域均广泛使用。常见产品有移动电话、掌上电脑 (PDA) 及笔记本电脑之类的便携式计算机、便携式数码音乐播放器、LED/LCD 台式电脑显示器和 LED/LCD 电视等。在电子设备生产领域,设备制造商竞相追求更小的封装尺寸(甚至仅为了减少数十微米的厚度),LED/LCD 因而变得越来越薄。[详细]
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2016-07-01 00:00
操作手册
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使用 Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 测量光学材料不同入射角下的反射率 — 考察小型显示器的性能
- 视觉显示器小型化和节能化的趋势带来了设备移动性的提高,促使其在日常生活应用中的快速普及。基于发光二极管 (LED) 和液晶显示器 (LCD) 技术的光学显示器在工业和家用领域均广泛使用。常见产品有移动电话、掌上电脑 (PDA) 及笔记本电脑之类的便携式计算机、便携式数码音乐播放器、LED/LCD 台式电脑显示器和 LED/LCD 电视等。在电子设备生产领域,设备制造商竞相追求更小的封装尺寸(甚至仅为了减少数十微米的厚度),LED/LCD 因而变得越来越薄。[详细]
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2021-07-05 13:48
应用文章
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常见光学材料及用途
- 常见光学材料及用途光学玻璃(BK7/K9)BK7(K9)是常见的高硼硅冕牌玻璃之一,透射范围380nm~2100nm,它的同质性高,气泡、杂质含量低,可直接作为透射光学用材料。BK7硬度较高,具有良好的抗划伤性。但热膨胀系数较大,不推荐用于温度敏感的应用。熔融石英(FusedSilica)国内将熔融石英材料分为JGS1、JGS2和JGS3,用于不同的应用。●JGS1:通常用于紫外、可见光波段,材料不含气泡和杂质●JGS2:通常用于反射镜基底,材料含较多小气泡●JGS3:在红外有很好的透过率,但是包含很多气泡,限制了它的广泛使用[详细]
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2018-09-12 10:00
产品样册
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太赫兹波段光学材料
- 本文研究了可用于太赫兹(THz)光谱范围的光学材料的特性,太赫兹光谱范围位于光学和无线电范围之间。与太赫兹设备光学相关的研究领域的重要性在于太赫兹范围内激光的创造活动的加强以及在一般的光学材料应用中发现的重大问题。本研究致力于分析所使用的THz材料的特性,尤其是光学特性。文章提供了这些材料的特征,并讨论和比较了常规和新材料的物理、化学和光学特性,包括晶体材料(硅、蓝宝石、石英、金刚石、锗和碳化硅)以及一些聚合物(聚甲基戊烯、聚乙烯和聚四氟乙烯)。
相关产品:
太赫兹窗片 (高阻硅片,Ge片,TPX窗片,HDPE窗片,Teflon窗片,金刚石窗片)
太赫兹波片
TPX透镜
高阻硅透镜[详细]
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2023-10-17 09:22
期刊论文
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关于激光粒度仪折射率的问题
- 关于激光粒度仪折射率的问题[详细]
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2024-09-11 17:55
课件
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单晶硅片 中缺陷的研究
- 单晶硅片 中缺陷的研究[详细]
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2024-09-16 12:37
实验操作
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使用分光光度法研究晶体材料的二色性
- 使用分光光度法研究晶体材料的二色性[详细]
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2020-12-25 10:11
应用文章
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固体介质折射率测定仪
- 固体介质折射率测定仪型号;HAD-FD-OE-3折射率是反映介质光学性质的重要参数之一。本仪器采用的实验方法,在光学测量中具有典型性和基本要求的特点。用测布儒斯特角的方法测量透明介质的折射率及利用测量激光照射半导体薄片的反射系数方法,测量部分半导体如硅、砷化镓等介质的折射率。本仪器具有体积小,重量轻,调节方便,装置牢靠,实验数据稳定可靠等优点。本仪器可用于基础物理实验,设计性与研究性物理实验及物理奥林匹克竞赛培训实验用。本仪器具有以下优点: 1.采用高强度优质铝合金材料制成,表面经阳极氧化处理,仪器重量轻、体积小、耐用、不会生锈,使用寿命长。 2.带有刻度的转盘经精心设计和加工,转动轻巧灵活,读数准确。 3.采用数字式光功率计测量偏振光光强,测量结果稳定可靠。 4.有黑色遮光罩挡光,可在明光及通风条件下做光学实验,在同一实验室各组实验互不干扰。 应用本仪器可以完成以下实验: 1.光的偏振现象的观察和分析,加深对光偏振规律的认识。掌握获得线偏振光的知识及确定偏振片偏振方向的方法。 2.用布儒斯特定律,测量对可见光透明固体材料的折射率。 3.通过测量偏振光二个分量入射到介质上反射光的反射系数,测量半导体硅等材料的折射率。 仪器主要技术参数: 1.半导体激光器波长650nm,功率1.5-2.0mW,工作电压3V。 2.转盘直径为2.0cm,可调范围0-360°,分度值1°。 3.水平光学转台可0-360转动,分度值1°。 4.数字式光功率计量程有200uW和2mW二档,三位半液晶显示。www.51658042.com北京恒奥德仪器仪表有限公司联系方式:010-51658042/51760331/51717696手机:15010245973/15313176001/15313175998联系人:李经理地址:北京市海淀区阜城路42号院中裕商务花园6C-211传真:010-51717696邮箱:hadgs2009@163.com网址:http://www.51658042.com。http://www.had200911.cn:http://had200911.b2b.hc360.com。54pc.com/netshow/20100104193745/QQ:1968156761116912188023626135142661074941[详细]
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2018-09-24 10:02
产品样册
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折射率对LED封装材料的影响
- 折射率对LED封装材料的影响[详细]
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2014-08-22 00:00
标准
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大豆油的分光光度法
- 大豆油的分光光度法[详细]
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2024-09-16 04:42
产品样册
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HAD-FD-OE-3 固体介质折射率测定仪
- 固体介质折射率测定仪型号;HAD-FD-OE-3折射率是反映介质光学性质的重要参数之一。本仪器采用的实验方法,在光学测量中具有典型性和基本要求的特点。用测布儒斯特角的方法测量透明介质的折射率及利用测量激光照射半导体薄片的反射系数方法,测量部分半导体如硅、砷化镓等介质的折射率。本仪器具有体积小,重量轻,调节方便,装置牢靠,实验数据稳定可靠等优点。本仪器可用于基础物理实验,设计性与研究性物理实验及物理奥林匹克竞赛培训实验用。本仪器具有以下优点: 1.采用高强度优质铝合金材料制成,表面经阳极氧化处理,仪器重量轻、体积小、耐用、不会生锈,使用寿命长。 2.带有刻度的转盘经精心设计和加工,转动轻巧灵活,读数准确。 3.采用数字式光功率计测量偏振光光强,测量结果稳定可靠。 4.有黑色遮光罩挡光,可在明光及通风条件下做光学实验,在同一实验室各组实验互不干扰。 应用本仪器可以完成以下实验: 1.光的偏振现象的观察和分析,加深对光偏振规律的认识。掌握获得线偏振光的知识及确定偏振片偏振方向的方法。 2.用布儒斯特定律,测量对可见光透明固体材料的折射率。 3.通过测量偏振光二个分量入射到介质上反射光的反射系数,测量半导体硅等材料的折射率。 仪器主要技术参数: 1.半导体激光器波长650nm,功率1.5-2.0mW,工作电压3V。 2.转盘直径为2.0cm,可调范围0-360°,分度值1°。 3.水平光学转台可0-360转动,分度值1°。 4.数字式光功率计量程有200uW和2mW二档,三位半液晶显示。www.51658042。。com[详细]
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2018-09-24 10:01
产品样册
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固体介质折射率测定仪 HAD-FD-OE-3
- 固体介质折射率测定仪型号;HAD-FD-OE-3折射率是反映介质光学性质的重要参数之一。本仪器采用的实验方法,在光学测量中具有典型性和基本要求的特点。用测布儒斯特角的方法测量透明介质的折射率及利用测量激光照射半导体薄片的反射系数方法,测量部分半导体如硅、砷化镓等介质的折射率。本仪器具有体积小,重量轻,调节方便,装置牢靠,实验数据稳定可靠等优点。本仪器可用于基础物理实验,设计性与研究性物理实验及物理奥林匹克竞赛培训实验用。本仪器具有以下优点: 1.采用高强度优质铝合金材料制成,表面经阳极氧化处理,仪器重量轻、体积小、耐用、不会生锈,使用寿命长。 2.带有刻度的转盘经精心设计和加工,转动轻巧灵活,读数准确。 3.采用数字式光功率计测量偏振光光强,测量结果稳定可靠。 4.有黑色遮光罩挡光,可在明光及通风条件下做光学实验,在同一实验室各组实验互不干扰。 应用本仪器可以完成以下实验: 1.光的偏振现象的观察和分析,加深对光偏振规律的认识。掌握获得线偏振光的知识及确定偏振片偏振方向的方法。 2.用布儒斯特定律,测量对可见光透明固体材料的折射率。 3.通过测量偏振光二个分量入射到介质上反射光的反射系数,测量半导体硅等材料的折射率。 仪器主要技术参数: 1.半导体激光器波长650nm,功率1.5-2.0mW,工作电压3V。 2.转盘直径为2.0cm,可调范围0-360°,分度值1°。 3.水平光学转台可0-360转动,分度值1°。 4.数字式光功率计量程有200uW和2mW二档,三位半液晶显示[详细]
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2018-09-24 10:01
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粉末X射线衍射仪单晶,薄膜应力测量,SWAXS和拉曼以及EDXRF测量等多用途多功能
- 粉末X射线衍射仪单晶,薄膜应力测量,SWAXS和拉曼以及EDXRF测量等多用途多功能[详细]
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2013-10-22 00:00
产品样册
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润滑油的液体浓度折射率指数检测方案
- 润滑油的液体浓度折射率指数检测方案[详细]
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2014-09-26 00:00
标准
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固体材料(透光材料)折射率的测定方法
- 折射率不但标志着液体的纯度和浓度,也标志着化学反应过程的正常进行与质量情况,因此化学工业、制药工业、油脂工业、食品工业、制塘工业、地质勘察等也涉及液体折射率的测定。介质折射率的测试方法有许多种,例如:测角法、浸液法、干涉法等。 测角法直接利用光的折射定律,以测出光束通过待测试样后的偏转角度来确定折射率。这种方法的测量精度较高,可达小数第四位至第五位,在研究玻璃的光学常数与其化学成分之间的关系时通常采用这类方法。主要测试仪器为阿贝折射仪。 浸液法是以己知折射率的液体为参考介质来测定介质的折射率。这种方法简单容易,但准确度较差,大约为士2×10-3. 干涉法是利用折射率和光程差之间的关系,以干涉条纹的变化来进行折射率测量的方法。这类方法可分为涉光谱法、全息干涉法和F-P干涉法等. 在选择测试方法与测试仪器时,首先应考虑测量范围和测试精度的要求,其次是实验室的测试条件与设备。本实验用阿贝折射仪法。[详细]
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2018-08-10 10:58
产品样册
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