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光子探测系统解决方案
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本文由 北京先锋泰坦科技有限公司 整理汇编
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光子探测系统解决方案
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光子探测系统解决方案- 光子探测系统解决方案[详细]
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2024-09-11 17:56
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- 爆炸探测系统双模块高压发生器产品样册
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2016-10-18 14:24
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光子纳米粒度仪技术资料- 光子纳米粒度仪技术资料GJ03-802光子相关纳米粒度仪是国家科技型中小企业技术创新基金项目成果（立项代码：10C26213704395），也是国内采用动态光散射原理的纳米粒度仪。其测量原理建立在分散在液体颗粒的布朗运动基础之上，颗粒越小，运动速度越快，颗粒越大，运动速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光电倍增管和我公司自主研制的高速数字相关器作为核心器件，通过测试某一角度的散射光的变化并求出自相关函数（即扩散系数），根据Stokes－Einstein方程计算出颗粒粒径及分布。它具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，同时还具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的优点，是纳米颗粒粒度测试的产品。光子相关纳米粒度仪主要性能特点先进的测试原理该仪器采用动态光散射原理，其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；高灵敏度与信噪比核心部件采用我公司自主研制CR256数字相关器，它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算，从而有效地反映不同大小颗粒的动态光散射信息，为测试结果的准确度奠定基础；稳定的光路系统采用光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性；高精度恒温控制系统采用半导体温控技术，温控精度高达±0.2℃，使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态，避免温度变化而引起液体黏度及布朗运动速度变化导致的测试偏差，保证测试结果准确度及稳定性。光子相关纳米粒度仪技术参数执行标准GB/T19627-2005/ISO13321：1996GB/T29022-2012/ISO22412：2008测试范围：1~10000nm（与样品有关）准确度:<1%（标准样品平均粒径）重复性:<1%（标准样品平均粒径）测试浓度:0.1mg/ml~100mg/ml（与样品有关）激光:半导体激光器，λ=532nm，P=30mW探测器:光电倍增管（PMT）散射角:90o样品池:10mm×10mm×40mm,1~4mL测试温度:5~40℃温控精度:±0.2℃测试速度:<5Min体积:480mm×270mm×170mm重量:12Kg数字:相关器规格型号:CR256自相关通道:256基线通道:4单位延迟时间:100ns~10ms[详细]
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2018-10-07 10:02
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2023-02-16 14:34
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- 可见光单光子探测器
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2025-07-31 10:23
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2024-09-11 17:48
专利
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- 单光子计数器产品样册[详细]
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2016-10-19 18:04
安装说明
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- 我们对Aurea Technology出品的TPS1550光子源的偏振纠缠进行验证，我们搭建了一套实验光路，利用Aurea出品的单光子探测器与Swabian的1ps时间分辨率计数器，成功验证其纠缠性[详细]
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2024-11-21 11:49
应用文章
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- 近红外单光子探测器
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应用领域：
激光雷达、测距、成像；
生物荧光检测；
灵敏光谱检测；
量子保密通信。[详细]
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2025-07-31 10:21
选购指南
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2012-01-24 00:00
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- SiPM光子探测效率新突破
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2014-05-12 00:00
其它
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- Aunion-_GX率超导单光子探测器[详细]
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2015-11-25 00:00
实验操作
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- GJ03-802光子相关纳米粒度仪的技术资料
- GJ03-802光子相关纳米粒度仪的技术资料GJ03-802光子相关纳米粒度仪是玖久仪器公司向您推荐的新一代粒度仪仪器特点：1.先进的测试原理该仪器采用动态光散射原理，其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；2.高灵敏度与信噪比核心部件采用我公司自主研制CR256数字相关器，它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算，从而有效地反映不同大小颗粒的动态光散射信息，为测试结果的准确度奠定基础；3.稳定的光路系统采用光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性；4.高精度恒温控制系统采用半导体温控技术，温控精度高达±0.2℃，使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态，避免温度变化而引起液体黏度及布朗运动速度变化导致的测试偏差，保证测试结果准确度及稳定性。技术参数执行标准GB/T19627-2005/ISO13321：1996GB/T29022-2012/ISO22412：2008测试范围1~10000nm（与样品有关）准确度<1%（标准样品平均粒径）重复性<1%（标准样品平均粒径）测试浓度0.1mg/ml~100mg/ml（与样品有关）激光半导体激光器，λ=532nm，P=30mW探测器光电倍增管（PMT）散射角90o样品池10mm×10mm×40mm,1~4mL测试温度5~40℃温控精度±0.2℃测试速度<5Min体积480mm×270mm×170mm重量12Kg数字相关器规格型号CR256自相关通道256基线通道4单位延迟时间100ns~10ms[详细]
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2018-10-07 10:02
产品样册
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- 光子计数模块 C11202-050产品样册
- 用于微光检测的单像素光子计数模块C11202系列是可探测微光的单光子计数光学测量模块。C11202系列是由一个热电制冷单像素MPPC、一个信号放大电路、一个补偿电路、一个高压电源电路以及一个温度控制电路组成。光敏面有φ50 μm和φ100 μm两种尺寸，这种小尺寸的光敏面提供低的暗计数。只需与一个外部信号电源（±5 V）相连，模块即可工作。产品特性●在短波长范围具有高灵敏度 ●低暗计数 ●低剩余脉冲 [详细]
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2020-03-10 12:37
产品样册
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- 光子计数探头 H13467-02产品样册
- H11870系列是宽灵敏面积光子计数探头，包含25 mm(1")直径正向光电倍增管、高压电源供电电路和光子计数电路。光电倍增管的高压电源和判决电平都预设在**值，使得只需连接到+5V电源即可进行光子计数测量。H13467系列还具有过量光的探测功能，以检测是否为过量光条件。 [详细]
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2020-03-10 12:37
产品样册
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- 光子计数探头 H12386-210产品样册
- H12386系列是光子计数探头设备，由一个金属封装光电倍增管、一个高速光子计数电路，和一个高压电源单元组成。光电倍增管的高压电源和判决点评被预设为**值，只需连接+5 V电源即可进行光子计数测量。H12386系列还具有过量光探测功能，该功能在输出计数由过量入射光降落时输出信号，通过此信号，可以判断测量数据是否正常。 [详细]
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2020-03-10 12:37
产品样册
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- 光子计数探头 H12386-110产品样册
- H12386系列是光子计数探头设备，由一个金属封装光电倍增管、一个高速光子计数电路，和一个高压电源单元组成。光电倍增管的高压电源和判决点评被预设为**值，只需连接+5 V电源即可进行光子计数测量。H12386系列还具有过量光探测功能，该功能在输出计数由过量入射光降落时输出信号，通过此信号，可以判断测量数据是否正常。 [详细]
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2020-03-10 12:37
产品样册
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- 光子计数探头 H12386-01产品样册
- H12386系列是光子计数探头设备，由一个金属封装光电倍增管、一个高速光子计数电路，和一个高压电源单元组成。光电倍增管的高压电源和判决点评被预设为**值，只需连接+5 V电源即可进行光子计数测量。H12386系列还具有过量光探测功能，该功能在输出计数由过量入射光降落时输出信号，通过此信号，可以判断测量数据是否正常。 [详细]
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2020-03-10 12:37
产品样册
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- 光子计数探头 H11870-03产品样册
- H11870系列是宽灵敏面积光子计数探头，包含25 mm(1")直径正向光电倍增管、高压电源供电电路和光子计数电路。光电倍增管的高压电源和判决电平都预设在**值，使得只需连接到+5V电源即可进行光子计数测量。H11870系列还具有过量光的探测功能，以检测是否为过量光条件。我们提供安装法兰（E6264）作为选件，便于安装到测量设备。 [详细]
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2020-03-10 12:37
产品样册
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- 光子计数探头 H11870-02产品样册
- H11870系列是宽灵敏面积光子计数探头，包含25 mm(1")直径正向光电倍增管、高压电源供电电路和光子计数电路。光电倍增管的高压电源和判决电平都预设在**值，使得只需连接到+5V电源即可进行光子计数测量。H11870系列还具有过量光的探测功能，以检测是否为过量光条件。我们提供安装法兰（E6264）作为选件，便于安装到测量设备。 [详细]
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2020-03-10 12:37
产品样册
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