资料库
压汞测试时使用扫描和平衡的区别
-
本文由 麦克默瑞提克(上海）仪器有限公司 整理汇编
2015-08-25 00:00 543阅读次数
文档仅可预览首页内容，请下载后查看全文信息！
-
立即下载
压汞测试时使用扫描和平衡的区别
登录或新用户注册
请用手机微信扫描下方二维码
快速登录或注册新账号
微信扫码，手机电脑联动
更多资料
-
压汞测试时使用扫描和平衡的区别- 压汞测试时使用扫描和平衡的区别[详细]
-
2015-08-25 00:00
应用文章
-
低压等离子技术和常压等离子技术的区别- 低压等离子技术
对于低压等离子技术，气体在真空中通过获取能量从而被激发。等离子由高能离子、高能电子以及其它反应粒子组成。由此，等离子材料表面可以被有效的改变。其效应可以分为以下三类 ：
[详细]
-
2024-09-28 00:42
标准
-
- 压汞法基本原理
- 压汞法基本原理[详细]
-
2024-09-16 01:37
操作手册
-
- 如何使用压汞数据计算特定孔径下材料的堆密度和孔隙率
- 如何使用压汞数据计算特定孔径下材料的堆密度和孔隙率[详细]
-
2015-06-05 00:00
其它
-
- GB_T 21650.1-2008 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第1部分：压汞法
- 通常，不同的孔（微孔、介孔和大孔）可视作固体内的孔、通道或空腔，或者是形成床层、压制体或团聚体的固体颗粒间的空间（如裂缝或空隙）。通常用孔隙率来表示固体材料的多孔特性，其更为准确的定义为：一定量固体中的可测定孔和空隙的体积与该固体所占有的总体积之比。除了可测定孔外，固体中可能还有一些闭孔，这些孔与外表面不相通，且流体不能渗入。本部分不涉及闭孔的表征。[详细]
-
2024-09-27 23:47
标准
-
- GB/T 21650.1-2008 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度 第1部分：压汞法
- 本部分描述了根据 Ritter 和 Drake 发展的压汞法来评价固体的孔径分布和孔中的比表面。它是一种可比较的方法。由于汞污染，本方法通常是破坏性的。测得的渗透到孔或空隙中汞的体积是与孔径相关的静压力的函数。[详细]
-
2024-09-16 02:59
标准
-
- 气体吸附和压汞法得到的孔径分布结合的简单方法
- 气体吸附和压汞法得到的孔径分布结合的简单方法[详细]
-
2013-06-21 00:00
安装说明
-
- 紫外线老化光的测试区别
- 了解什么是紫外线光，明确紫外线老化试验条件。[详细]
-
2022-03-07 14:46
选购指南
-
- 使用霉菌培养箱时的维护
- 使用霉菌培养箱时的维护[详细]
-
2012-11-29 00:00
实验操作
-
- 介电强度和击穿电压的区别
- 介电强度和击穿电压的区别[详细]
-
2015-03-11 00:00
应用文章
-
- 马弗炉和电阻炉的区别
- 马弗炉和电阻炉的区别[详细]
-
2012-06-07 00:00
产品样册
-
- 热电偶和热电阻的区别
- 热电偶和热电阻的区别[详细]
-
2009-10-22 00:00
操作手册
-
- 超净工作台和生物安全柜的区别
- 超净工作台和生物安全柜的区别[详细]
-
2016-03-03 00:00
报价单
-
- 反应釜和搅拌罐的区别
- 反应釜和搅拌罐的区别[详细]
-
2016-05-17 00:00
其它
-
- ICP和XRF的区别
- 1.ICP-AES主要用于溶液分析，XRF主要用于固体分析；2.XRF对标准匹配的要求非常高，因此标准的配制及标准曲线制作比较麻烦，但一旦制作成功即可长期使用，而ICP-AES对标准匹配的要求相对不那么严格，标准的配制及标准曲线制作比较简单；3.XRF是非破坏性分析，ICP-AES则是破坏性分析；请下载资料或是电话北京华科易通分析仪器有限公司索取。[详细]
-
2018-10-25 10:00
产品样册
-
- 介电强度和击穿电压的区别
- 介电强度和击穿电压的区别[详细]
-
2024-09-19 05:52
实验操作
-
2600D和2500D的区别- CM-2500d/2600d电脑分光测色计1.可同时测定SCI（包含镜面反射光）与SCE（消除镜面反射光）技术先进的数字化光泽控制。2.可靠性高、寿命长。追求维修方便的设计。3.本品是世界上首chuang内置UV瞬间机能的便携式分光测色计。通过先进的数字化UV控制，达到Zda限度的缩短UV评价时间。4.可在各角度上测定。舒适小型的机身，轻松易操作的旋钮，大型液晶显示面板。5.能进行充分、准确的色彩交流，有多种色空间以对应各种规格。6.明亮的取镜器能准确地获取测定的目标夹角。详细介绍照明-受光光学系d/8（扩散照明、8°方向受光）SCI（包含镜面反射光）/SCE（消除镜面反射光）同时测定（无机械切换）（根据DIN5033Tei17、JISZ8722条件C、SO7724/1CIENo.15、ASTME1164）积分球尺寸￠52mm受光元件双重40个元件硅光电二极管阵列分光方法平面回折光栅测定波长范围360nm～740nm测定波长间隔10nm半值宽度约10nm反射率测定范围0～175%、显示分解能力：0.01%测定用光源脉冲灯3个（CM2500为2个脉冲灯）测定时间约1.5秒（荧光测定时：约2秒）Z短可测定间隔SCI/SCE测定时间3秒（荧光测定时:约4秒）可测定次数 10秒间隔、约1000次（使用碱性电池）（测定1次可同时评价SCI/SCE）测定直径/照明直径 MAV：￠8mm/￠11mmSAV:￠3mm/￠6mm（可切换2种）（CM-2500d只有MAV）重复性 分光反射率：标准偏差0.1%以内（但360~380mm的波长域为标准偏差的0.2%以内）色彩值：标准偏差△E＊ab0.04以内（白色校正后,将白色校正板以10秒间隔测定30次时）量具误差 △E＊ab0.2以内（MAV/SCI）（以主机为基准、BCRA系列Ⅱ12色测定时的平均值）UV控制 瞬时调整（无机械调整）＊带UV400nm截断过滤器（CM-2500d无UV控制机能）测定形式单测定/平均化测定（自动形式3、5、8次/手动形式）接口根据RS-232C观察条件2°和10°观测光源A、C、D50、D65、F2、F6、F7、F8、F10、F11、F12（2种光源下可同时评价）显示 分光值、分光图表、色彩值、色差值、色差图表、PASS/FAIL显示表色系、表色值 L＊a＊b＊、L＊C＊h＊、CMC（1:1）、CMC（2:1）、CIE94、搜索器-Lab、Yxy、孟赛尔、XYZ、MI、WI、（ASTME313/CIE）YI（ASTME313/ASTMD1925）、（ISO2470）、浓度测试A/T内存数据量700数据（SCI/SCE1数据）临界判别色差的临界值（箱型/椭圆型可临界设定）电源电池4节、专用适配器外形尺寸69（宽）×96（高）×193（长）mm 重量670克（不包括电池）使用温湿度范围 5℃~40℃相对湿度80%以下、无凝露设备类型：Ⅱ污染度:2保管温湿度范围0℃~45℃、相对湿度80%以下、无凝露标准附件 白色校正、目标框￠8mm目标框￠3mm（CM-2500d无目标框￠3mm）、RS232C电缆、专用AC适配器、干电池4节选购件 硬盒、防尘罩盒、防尘罩、色彩管理软件、校零盒用途 适用于塑胶、橡胶、涂料、纺织印染、印刷、汽车、造纸等行业，可连接色彩品质管理软件CCM（电脑配色系统）CM2500d和CM2600d的差别标准附件白色校正、目标框￠8mm目标框￠3mm（CM-2500d无）、UV控制瞬时调整（无机械调整）＊带UV400nm截断过滤器（CM-2500d 无UV控制机能） 测定直径/照明直径MAV：Ф8mm/Ф11mm SAV:Ф3mm/Ф6mm（可切换2种）（CM-2500d可MAV）[详细]
-
2024-09-29 03:11
产品样册
-
- 同一个扫描器在扫描不同尺度时的性能
- 同一个扫描器在扫描不同尺度时的性能[详细]
-
2014-02-21 00:00
操作手册
-
- 恒温恒湿试验箱线性和非线性的测试区别分析
- 恒温恒湿试验箱线性和非线性的测试区别分析[详细]
-
2013-01-16 00:00
选购指南
Copyright 2004-2026 yiqi.com All Rights Reserved , 未经书面授权 , 页面内容不得以任何形式进行复制
在线留言
沪公网安备 31011502008050号
参与评论
登录后参与评论