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样品、介质与分散剂
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样品、介质与分散剂
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样品、介质与分散剂
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固体介质折射率测定仪
- 固体介质折射率测定仪型号;HAD-FD-OE-3折射率是反映介质光学性质的重要参数之一。本仪器采用的实验方法,在光学测量中具有典型性和基本要求的特点。用测布儒斯特角的方法测量透明介质的折射率及利用测量激光照射半导体薄片的反射系数方法,测量部分半导体如硅、砷化镓等介质的折射率。本仪器具有体积小,重量轻,调节方便,装置牢靠,实验数据稳定可靠等优点。本仪器可用于基础物理实验,设计性与研究性物理实验及物理奥林匹克竞赛培训实验用。本仪器具有以下优点: 1.采用高强度优质铝合金材料制成,表面经阳极氧化处理,仪器重量轻、体积小、耐用、不会生锈,使用寿命长。 2.带有刻度的转盘经精心设计和加工,转动轻巧灵活,读数准确。 3.采用数字式光功率计测量偏振光光强,测量结果稳定可靠。 4.有黑色遮光罩挡光,可在明光及通风条件下做光学实验,在同一实验室各组实验互不干扰。 应用本仪器可以完成以下实验: 1.光的偏振现象的观察和分析,加深对光偏振规律的认识。掌握获得线偏振光的知识及确定偏振片偏振方向的方法。 2.用布儒斯特定律,测量对可见光透明固体材料的折射率。 3.通过测量偏振光二个分量入射到介质上反射光的反射系数,测量半导体硅等材料的折射率。 仪器主要技术参数: 1.半导体激光器波长650nm,功率1.5-2.0mW,工作电压3V。 2.转盘直径为2.0cm,可调范围0-360°,分度值1°。 3.水平光学转台可0-360转动,分度值1°。 4.数字式光功率计量程有200uW和2mW二档,三位半液晶显示。www.51658042.com北京恒奥德仪器仪表有限公司联系方式:010-51658042/51760331/51717696手机:15010245973/15313176001/15313175998联系人:李经理地址:北京市海淀区阜城路42号院中裕商务花园6C-211传真:010-51717696邮箱:hadgs2009@163.com网址:http://www.51658042.com。http://www.had200911.cn:http://had200911.b2b.hc360.com。54pc.com/netshow/20100104193745/QQ:1968156761116912188023626135142661074941[详细]
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HAD-FD-OE-3 固体介质折射率测定仪
- 固体介质折射率测定仪型号;HAD-FD-OE-3折射率是反映介质光学性质的重要参数之一。本仪器采用的实验方法,在光学测量中具有典型性和基本要求的特点。用测布儒斯特角的方法测量透明介质的折射率及利用测量激光照射半导体薄片的反射系数方法,测量部分半导体如硅、砷化镓等介质的折射率。本仪器具有体积小,重量轻,调节方便,装置牢靠,实验数据稳定可靠等优点。本仪器可用于基础物理实验,设计性与研究性物理实验及物理奥林匹克竞赛培训实验用。本仪器具有以下优点: 1.采用高强度优质铝合金材料制成,表面经阳极氧化处理,仪器重量轻、体积小、耐用、不会生锈,使用寿命长。 2.带有刻度的转盘经精心设计和加工,转动轻巧灵活,读数准确。 3.采用数字式光功率计测量偏振光光强,测量结果稳定可靠。 4.有黑色遮光罩挡光,可在明光及通风条件下做光学实验,在同一实验室各组实验互不干扰。 应用本仪器可以完成以下实验: 1.光的偏振现象的观察和分析,加深对光偏振规律的认识。掌握获得线偏振光的知识及确定偏振片偏振方向的方法。 2.用布儒斯特定律,测量对可见光透明固体材料的折射率。 3.通过测量偏振光二个分量入射到介质上反射光的反射系数,测量半导体硅等材料的折射率。 仪器主要技术参数: 1.半导体激光器波长650nm,功率1.5-2.0mW,工作电压3V。 2.转盘直径为2.0cm,可调范围0-360°,分度值1°。 3.水平光学转台可0-360转动,分度值1°。 4.数字式光功率计量程有200uW和2mW二档,三位半液晶显示。www.51658042。。com[详细]
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2018-09-24 10:01
产品样册
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固体介质折射率测定仪 HAD-FD-OE-3
- 固体介质折射率测定仪型号;HAD-FD-OE-3折射率是反映介质光学性质的重要参数之一。本仪器采用的实验方法,在光学测量中具有典型性和基本要求的特点。用测布儒斯特角的方法测量透明介质的折射率及利用测量激光照射半导体薄片的反射系数方法,测量部分半导体如硅、砷化镓等介质的折射率。本仪器具有体积小,重量轻,调节方便,装置牢靠,实验数据稳定可靠等优点。本仪器可用于基础物理实验,设计性与研究性物理实验及物理奥林匹克竞赛培训实验用。本仪器具有以下优点: 1.采用高强度优质铝合金材料制成,表面经阳极氧化处理,仪器重量轻、体积小、耐用、不会生锈,使用寿命长。 2.带有刻度的转盘经精心设计和加工,转动轻巧灵活,读数准确。 3.采用数字式光功率计测量偏振光光强,测量结果稳定可靠。 4.有黑色遮光罩挡光,可在明光及通风条件下做光学实验,在同一实验室各组实验互不干扰。 应用本仪器可以完成以下实验: 1.光的偏振现象的观察和分析,加深对光偏振规律的认识。掌握获得线偏振光的知识及确定偏振片偏振方向的方法。 2.用布儒斯特定律,测量对可见光透明固体材料的折射率。 3.通过测量偏振光二个分量入射到介质上反射光的反射系数,测量半导体硅等材料的折射率。 仪器主要技术参数: 1.半导体激光器波长650nm,功率1.5-2.0mW,工作电压3V。 2.转盘直径为2.0cm,可调范围0-360°,分度值1°。 3.水平光学转台可0-360转动,分度值1°。 4.数字式光功率计量程有200uW和2mW二档,三位半液晶显示[详细]
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2018-09-24 10:01
产品样册
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BURKERT0124电磁阀适用于什么介质?
- 德国BURKERT宝德0124系列是一种直动式、二位二通或二位三通旋启式衔铁电磁阀。提供的产品具有多种作用,可用于打开、关闭、计量、混合和分配等操作。磁性系统通过一个隔膜系统与介质室隔开。适用于腐蚀性介质的电磁阀-化学品、酸、碱、超纯水直动式电磁阀,两位两通和两位三通隔离膜片将介质与电磁系统隔离标准配置带手动开关常闭、常开、转向、混合或通用功能介质分离便于维修,手动控制内孔:2.0to5.0mmKv值:0.13to0.4m3/h连接口:G,NPT,Rc1/4"阀体材料:PP,PVDF密封材质:EPDMorFPM介质温度:EPDM-10to+80℃FPM-10to+80℃压力范围:0upto16bar电源:24V110V230VAC50or60Hz24VDC负载周期:1**%连续工作电气连接:电缆插座,防护等级IP65我司优势代理销售德国BURKERT宝德全系列产品,德国源头采购,价格占有优势,欢迎您的咨询来电![详细]
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2018-11-08 10:00
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2024-09-16 01:57
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Guildline盐度计8400B介质说明
- Guildline盐度计8400B介质说明8400B有一个经过重新设计的样本瓶固定器,可方便地装配原始样本瓶。标配内置一个水瓶数据记录设备,它可提供电导率、瓶编号、水槽温度和标准化参考值输出。水槽温度在18℃~33℃之间可选,步长为3℃。可通过一个窗口来观察流过传导单元的被测水。操作控制包括:电导率量程选择;显示零参考、待机或读数的功能开关;水槽温度控制检测、标准海水标准化设置、恒温槽排放和加注控制,以及样本流速控制,可立即测量深冷水。8400B是据有许多改进的设计和布局的实验室盐度计。特别注意已采取改善具有较好的输入滤波的电源和一个新的线缆线束。为维护时打开前门,有一盏包括前面板上的加热器故障灯和子面板减少磨损的内部的软管。内部为提高易用性的维护,也有重大改变,如对泵的访问>精度精度范围2~42的盐度>改进的温度稳定性>无需温度补偿>小样品和快速测量>数据记录标准>提高易维护性测量范围:0.0001:1.15电导率0.004to76mS/cm2to42等效实用盐度单位(PSU)采样量:Zda值所需100毫升(从淡水中该单元格开始),包括冲洗量。3等效PSU不同样品中的约50毫升只需要50毫升的样本水即可获得Z终读数,包括冲洗。半自动操作可在1分钟之内给出电导率读数,且分辨率优于0.0002个等价PSU。比例YZ:Linearscaleofconductivityratiohaving22stepsfrom0to2.2,where2.0correspondstoseawaterof35EquivalentPSU.Maximumreadingis2.29999,correspondingtoapproximately42EquivalentPSU.水槽温度:选择步骤从180C到330C,极ng准度在±0.020C,稳定性在±0.0010C每天.选定的温度应在(ambient+4)0Cand(ambient-2)0C.保养:瓶刷易于清洁。可清洗除去,并在更换,无需改变校准。水槽体积:4.4U.S.加仑(16.8升).供电要求:115or230伏电压±10%,50/60Hz,Zda400瓦尺寸:H678mm(26.7in);W533mm(21in);D559mm(22in)重量:BathEmpty:50kg(110lbs)BathFull:70kg(150lbs)[详细]
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2024-09-11 17:49
产品样册
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与核潜艇运行有关的样品分析
- 与核潜艇运行有关的样品分析[详细]
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2016-09-07 00:00
安装说明
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磁性样品的扫描电镜观察与分析
- 磁性样品的扫描电镜观察与分析[详细]
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2024-09-27 23:46
其它
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X射线分析深度与样品厚度
- X射线分析深度与样品厚度[详细]
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2024-09-17 05:06
期刊论文
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