IEC 61646-2008

本文由 杭州九环环境试验设备有限公司 整理汇编

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  IEC68-2-1TestsA：冷（Cold）IEC68-2-1AAmendment1.介　　本法同用於生（Heat-dissipating）及不生（Nonheat-dissipating）之件，依方法之不同可分,度（Suddenchangeoftemperature）及度（Gradualchangeoftemperature）。本法主要目的在於定件、或其他件在低境下操作存之能力，但不用於估件在度改程中，可能生之影，若欲估此情，考"IEC68-2-14TestN：度化"。本法中之度在用之前，必先定此度化不件生影。2.一般描述　　件於室件下置入，於度，先降至相所定之度值，再件置入；於度先件置入，再由室件降至相所定之度值。件俟度定後，再依定之留加以保。於不生之件一般以非操作之行，此制空流之方式可用於此。於生之件不宜使用制空流之方式，除非度法到所要求之度件。3.度（IEC68-2-1TestsA：冷）度（℃）-65,-55,-40,-25,-10,-5,+5留（小）2,16,72,96[详细]

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  GB/T2423.27-2006八EC60068-2-39:1976免费下载前言本部分是GB/T2423《电工电子产品环境试验》的一部分。本部分等同采用IEC60068-2-39;1976《基本环境试验规程第2部分:试验方法试验Z/AMD:寒冷、低气压和湿热连续综合试验》（英文版）。本部分技术内容与IEC60068-2-39:1976《基本环境试验规程第2部分，试验方法试验Z/AMD:寒冷、低气压和湿热连续综合试验）（英文版）相同，编写格式与表达方式符合GB/T1.12000和GB/T20000.2-2001的有关规定。为便于使用，本部分对于IEC60068-2-39;1976作了下列编辑性修改:a）为了GB/T2423《电工电子产品环境试验》各部分的名称协调一致，本部分未完全采用IEC60068-2-39;1976的中文译名，而改为《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验》;b）删除了IEC60068-2-39;1976的前言本部分发布实施后代替GB/T2423.27-1981《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法》。本部分与GB/T2423.27-1981相比主要变化如下:a）为了GB/T2423《电工电子产品环境试验》各部分的名称协调一致，本部分名称改为《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验》;b）第1章“目的”和第2章“试验的一般说明”的文字叙述与原来有所不同。本部分由ZG电器工业协会提出。本部分由全国电工电子产品环境技术标准化技术委员会归口。本部分起草单位:信息产业部电子第五研究所。本部分主要起草人:邱福来、张铮本部分所代替标准的历次版本发布情况为:-GB/T2423.27-1981。[详细]

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  GB/T2423.50-1999/IEC68-2-67:1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法：试验Cy：恒定湿热主要用于元件的加速试验本标准规定了一种以加速方式评价小型电工电子产品，主要是非气密元件耐湿热劣化效应的试验方法。本试验不适用于评价诸如腐蚀和变形等外部效应。更多标准免费下载地址：http://www.bjlihui.com[详细]

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  IEC68-2-5:1975试验方法模拟地面上的太阳辐射太阳辐射试验是一项会直接危害试验人员健康的试验，为此试验前必须仔细阅读GB/T2424-141995((电工电子产品环境试验第2部分:试验方法太阳辐射试验导则》第9章的内容。1目的确定地面太阳辐射对设备和元器件产生的影响(热、机械、化学、电气等)。2初始检测按有关规范的规定，对试验样品进行外观检查，井进行电性能和机械性能的检测。3试验设备11进行试验的试验箱的光源在规定的照射测量平面上，辐射强度应为1.120kW/m`土1000，此值包括经试验箱反射后被试验样品吸收的辐射，但不包括试验箱发射的长波红外线。辐射强度的测量见GB/T2424.14-1995第6.1条的规定。光谱能量分布及容差见表10注:如果只考虑太阳辐射的热效应，见GB/T2424.14-1995中2.2和2.33.3试验箱内的测温装置应避免光源的辐射热，温度的测量在规定的照射平面(0~50mm的水平面上进行，在试验样品与箱壁之问的ZX处或距离试验样品lm处(以短者为准)的一点或几点作为温度测量点。4条件试验4.1试验样品应放置在具有确定导热率和热容量的样品支架或垫托物上，并应与其他样品相隔开以避免遮住辐射源或止次辐射热，见GB/T2424.14-1995中4.6.4.2在整个试验期间.箱内辐照度、温度、湿度和其他环境条件应按有关规范要求，保持在与试验程序相对应的等级上。获取标准全部内容请点击，或联系科文，我们会热忱为您服务。[详细]

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