GJB 360.7-1987 电子及电气元件试验方法冷热冲击温度冲击试验

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GJB360.7-1987电子及电气元件试验方法冷热冲击温度冲击试验中华人民共和国国家标准电子及电气元件试验方法冷热冲击温度冲击试验TestmethodsforelectronicandelectricalcomponentpartsTemperatureshocktest1引言1.1目的确定元件曝露于高低温极值下，以及高低温极值交替冲击下所具有的抗御能力。1.2应用试验样品的失效数应以Z后检测为依据。3对冷热冲击试验设备的要求3.1高温冲击箱、低温冲击箱应能提供第2章表1所规定的极值温度条件。3.2高温冲击箱、低温冲击箱应符合GJB360.1-87<电子及电气元件试验方法总则>第4.4条a的规定。3.3冷热冲击试验箱应有足够的热容量，以便试验样品放入试验箱后，在5min内工作空间就能达到所规定的温度值。3.4试验样品的安装和支撑架的导热率应低，以保证试验样品与安装和支撑架间处于一种绝热状态。4试验程序4.1初始检测在试验的标准大气条件下，按有关标准的规定对试验样品进行外观检查和性能检测。4.2试验样品的安装试验样品的安装由有关标准规定，当装入试验箱时，应使气流畅通无阻地穿过及绕过试验样品。

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GJB360.7-1987电子及电气元件试验方法冷热冲击温度冲击试验中华人民共和国国家标准电子及电气元件试验方法冷热冲击温度冲击试验TestmethodsforelectronicandelectricalcomponentpartsTemperatureshocktest1引言1.1目的确定元件曝露于高低温极值下，以及高低温极值交替冲击下所具有的抗御能力。1.2应用试验样品的失效数应以Z后检测为依据。3对冷热冲击试验设备的要求3.1高温冲击箱、低温冲击箱应能提供第2章表1所规定的极值温度条件。3.2高温冲击箱、低温冲击箱应符合GJB360.1-87<电子及电气元件试验方法总则>第4.4条a的规定。3.3冷热冲击试验箱应有足够的热容量，以便试验样品放入试验箱后，在5min内工作空间就能达到所规定的温度值。3.4试验样品的安装和支撑架的导热率应低，以保证试验样品与安装和支撑架间处于一种绝热状态。4试验程序4.1初始检测在试验的标准大气条件下，按有关标准的规定对试验样品进行外观检查和性能检测。4.2试验样品的安装试验样品的安装由有关标准规定，当装入试验箱时，应使气流畅通无阻地穿过及绕过试验样品。[详细]
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