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XRF分析中铅元素的光谱干扰

本文由 美国XOS公司 整理汇编

2018-08-28 10:00 589阅读次数

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XOS软件旨在对样品的基体效应做出准确响应。然而,和任何分析技术一样,总有一些样品对XRF来说具有特别的挑战性,一般是由于材料的密度和/或元素的组成。本文件讨论了光谱干扰的一般成因,对涉及到检测和定量测量各种均匀样品基体中铅(Pb)含量时所碰到的常见问题做出了回答。是什么原因导致铅的测量浓度偏高和检测限(LOD)的增加?在塑料基底中是否有内在的铅干扰因素?在金属基底中是否有内在的铅干扰因素?

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