在现代分析测试技术领域,傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)凭借其高分辨率、宽检测范围和无损检测等优势,已成为材料表征、质量控制、环境监测等领域的核心工具。然而,传统KBr压片、液体池等样品制备方法在面对非均相、热敏性或微量样品时存在局限性。衰减全反射(ATR)附件的出现彻底改变了这一局面,通过将样品与ATR晶体直接接触,实现了“无需制样、即测即得”的检测流程,尤其适用于实验室、科研院所及工业现场的复杂样品分析。
ATR技术基于全内反射(TIR) 原理,当红外光以大于临界角的角度入射到高折射率(如ZnSe、金刚石、Si)的ATR晶体表面时,会在晶体内激发倏逝波(Evanescent Wave)。该波具有指数衰减特性(穿透深度约0.1-5μm),能与样品表层发生相互作用并产生特征吸收峰。其核心优势在于:
| 技术参数 | 传统制样法 | ATR附件(金刚石晶体) |
|---|---|---|
| 制样耗时 | 10-30分钟(含研磨、压片等) | 5-10秒(样品直接接触) |
| 样品适用性 | 固体(需研磨粉碎)、液体 | 固体、液体、薄膜、粘稠样品 |
| 检测精度(1 wn) | 2-4 wn | 1-2 wn |
| 样品损耗 | 不可逆(需1-5mg样品) | 几乎无损耗(适用于微量样品) |
| 抗干扰能力 | 受环境湿度/温度影响大 | 抗水性强(水峰干扰可通过空气补偿消除) |
典型应用场景:药品包装密封性检测(无需拆解铝箔)、文物颜料无损分析(故宫古画红外无损检测案例)、塑料薄膜表面成分快速筛查(如食品包装PE/PP区分)等。
ATR光谱的质量高度依赖晶体的光学性能,常用材料包括:
金刚石(DLC镀层)
ZnSe晶体
Si晶体(需低温冷却)
选型建议:优先采用金刚石晶体针对复杂样品,ZnSe作为通用型方案,Si晶体仅在特定低温场景下使用。
在工业现场,ATR附件的便携式设计使其成为移动检测的关键工具:
汽车行业:
环境监测:
食品质量控制:
除常规检测外,ATR技术在科研领域呈现以下突破:
原位反应监测
微区分析
多模态联用技术
1. 水峰干扰
2. 样品表面不平整
3. 晶体划伤修复
ATR附件通过将复杂的样品制备流程“一键化”,极大提升了FTIR的现场检测能力,其技术价值已在学术研究与工业实践中得到充分验证。从实验室微量样品分析到工业流水线质量控制,ATR-FTIR正成为无损检测的标杆方法。未来,随着微型化ATR探头(如光纤耦合型)和AI辅助光谱解析技术的发展,其在空间分辨率、检测速度和智能化方面的潜力将进一步释放。
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