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邀请函 | 9月相约CIOE光博会,共探光电智测新未来

来源:巴斯德仪器(苏州)有限公司 更新时间:2025-09-02 11:15:21 阅读量:113
导读:邀请函 | 9月相约CIOE光博会,共探光电智测新未来
9月10日-12日第26届中国国际光电博览会(CIOE 2025)即将在深圳拉开序幕。作为覆盖光电全产业链的一场盛会,三丰精密量仪(上海)有限公司将展出光电行业的前沿性测量解决方案,诚邀您届时现场观展。

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CIOE展会概况

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展会:第26届中国国际光电博览会(CIOE)
展期:9月10日(三)~12日(五)
展馆:深圳国际会展中心(宝安新馆)
三丰展位:3号馆3B31


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出展亮点抢先看

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围绕光电行业细分领域的测量难题,三丰本次将展出面向光学光电、半导体、消费电子等领域的多维度测量解决方案,从微小到中型工件,从接触式到非接触式检测,精准匹配不同工件的测量需求。



先进封装/晶圆/TGV

半导体行业的高品质检测



  • 先进封装的无损式检测方案
针对封装基板层间材料(如ABF膜)难穿透、开孔检测工序繁杂等课题,三丰的复合型影像测量机QV WLI NIR搭载WLI白光干涉镜头和NIR近红外镜头,可实现对封装基板的内部结构实现无损式检测,无需激光开孔,告别传统破坏取样。
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搭载白光干涉镜头、近红外镜头的影像测量机QV WLI NIR

  • 晶圆/TGV/喷淋头的非接触式高通量检测

CNC影像测量机Quick Vision PRO,凭借PRO级的非接触式&快速检测,较以往提升40%,卓越的高通量测量出类拔萃,可满足晶圆、TGV、喷淋头等高效率测量。

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手机镜筒

微小零部件的低测力检测方案



测量手机镜筒、微型齿轮等微小精密工件,丰的微细测量系统UMAP Vision凭借低至1μN的超低测力,既能避免工件变形划伤,又能实现接触式测量的高精度,是测量手机镜头模组等精密电子部件的理想选择。



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    非球面镜片

    光学镜片的高效率表面形状测量



    在对非球面镜片等工件检测中,CNC表面形状测量机CS-H5500可通过上下连续测量,实现一次同步完成粗糙度与轮廓评价,同时,纳米级精度还可精准检测分析PV值、3D表面粗糙度等多种参数。


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    CNC表面形状测量机 CS-H5500


    单反镜筒

    中型精密件的高精度检测



    1.2μm初始精度、3mm/s高速测量、实时温度补偿……三丰全新的STRATO-Active系列高精度三坐标测量机,可以高性能满足单反镜筒、半导体设备零部件等中型工件的精密检测需求。

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    STRATO-Active系列高精度三坐标测量机

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    精密传感器展示专区


    本次展会还设置了以接触式位移传感器、激光测径仪和物镜等传感类产品的展示专区,为您提供满足生产现场多元化的应用案例,欢迎您来一探究竟!


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    “一键闪测”实机体验                                      

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    快速、智能、准确...三丰新推出的大景深影像测量仪QM-Fit,放置工件即刻测量,自动识别测量要素,尤其适合小型机械零部件的批量检测。诚邀您莅临现场体验。

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    展会小贴士

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    展馆地址:广东省深圳市宝安区福海街道展城路1号
    我们在这里:3号馆3B31
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    观展预约:您可以通过展会官方公众号“CIOE中国光博会”扫码进行参观登记。
    —扫码登记参观—
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    相约深圳

    三丰量具量仪
    服务热线:400-178-1913  
    官网链接:www.sf-bsd.com

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