HORIBA在清华大学举办纳米颗粒测试技术研讨会

4月10日，HORIBA在清华大学分析测试ZX举办了“HORIBA公司新一代纳米粒度及Zeta电位分析仪SZ-100仪器讲座暨纳米颗粒测试技术研讨会”。
本次研讨会吸引了众多清华大学的老师和同学参加，会议首先由HORIBA公司应用工程师方瑛女士对HORIBA公司新一代纳米粒度及Zeta电位分析仪SZ-100进行了详细的介绍，使大家了解了SZ-100的特点和优势。 随后方瑛女士对各位老师和同学在平时的科研测试工作中遇到的问题进行了解答，并详细讲解了纳米颗粒样品制备和分析测试过程中应该注意的事项。
会后，各位老师和同学参观了清华大学分析测试ZX新近购置的纳米颗粒分析仪SZ-100，方瑛女士进行了现场讲解和操作演示。

注：SZ-100 是 HORIBA Scientific Zxin推出的纳米粒子解析装置，可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子，并能完全解析纳米粒子的物质结构。该仪器被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、石炭、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和 CMP 等的检测。
　　Zxin推出的纳米粒子解析装置 SZ-100 有以下诸多性能：
◎将解析纳米尺寸重要的三要素(粒子直径、Zeta 电位、分子量测定)的测定囊括于一身。
◎从 PPM 级的低浓度到百分之几十的高浓度样品，都能够在保持原液状态下进行测量。
◎微小容量电泳样品池是 HORIBA Scientific 独自研发，可以测定取样调查仅100μL的 Zeta 电位。
◎适合胶质粒子、机能性纳米粒子材料、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等广泛应用。
◎操作简单，进样、设定参数后，只要按开始按钮即可得到测量结果。