第十三届北京分析测试学术报告会及展览会（BCEIA 2009），是由ZG分析测试协会主办，中华人民共和国科学技术部批准的专业性的分析测试仪器展览会，每两年举办一次，已经举办了二十多年，在国内外享有较高的声誉。
盈安科技已经参加BCEIA数届，都收到了良好的效果。本届展会上，盈安科技将隆重推出美国赛默飞世尔旗下的尼通（NITON）手持式XRF分析仪的全部系列产品，英国阿朗M2500系列台式CCD光谱仪。另外，还将S次展出公司自主设计、研发和制造的火花式直读光谱仪。届时，欢迎广大新老客户莅临我公司展位进行咨询和洽谈。
时间：2009.11.25-28
地点：北京展览馆
展位号：1205-1208
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