M&M 2019 隆重开幕

2019年8月5日， “M&M 2019”（M&M，Microscopy and Microanalysis）在美国俄勒冈州波特兰市隆重开幕。

TESCAN公司携多款扫描电镜和聚焦离子束系统亮相M&M 2019，包括镓离子双束聚焦扫描电镜系统（Ga FIB-SEM）---- TESCAN S8000G，氙离子双束聚焦扫描电镜系统（Xe FIB-SEM）---- TESCAN S9000X，钨灯丝扫描电镜 ---- VEGA3, 以及ZX发布的超高分辨热场发射扫描电镜 ---- TESCAN CLARA。

TESCAN 展位（BOOTH #1108）

TESCAN 展位一角（BOOTH #1108）

TESCAN S8000G和TESCAN S9000X是TESCAN分别于2017年和2018年ZX推出的两款仪器。 TESCAN S8000G集成了新一代的Bright Beam ^TM SEM镜筒、Orage ^TM Ga FIB镜筒、OptiGIS 气体注入系统等多项创新设计，在高分辨成像、原位应用扩展和分析扩展等方面达到了业内DJ水平。TESCAN S9000X配置了新一代的Triglav ^TM SEM镜筒和iFIB + ^TM FIB 镜筒，其设计Z适合用于面对半导体和材料表征中ZJ挑战性的物理失效分析，具有极高的分析、加工精度和加工效率。

TESCAN的应用专家在为客户演示

TESCAN CLARA是基于TESCAN S8000系列进一步研发的新机型，在设计时更着重于材料研究方面的需求，可以为各种类型的材料分析研究提供全面的支持。相对于TESCAN S8000,  TESCAN CLARA优化了低电压下的分辨率，同时也能更适应一些苛刻条件下才能完成的分析实验。软件方面，CLARA更直观的模块化设计可以为每个操作者都定制Z适合的操作界面和流程，协助他们更GX、便捷、可靠的完成工作。

TESCAN公司CPO -- Bruno Janssens曾经说过：“我们期待着在2019年于波特兰举行的M&M大会上，推出以TESCAN CLARA为主题的新分析产品组合。CLARA能够分析各种类型的材料，并能满足Z苛刻的实验要求，从高端科研到教学，它都是一个理想的选择。”

来自于美国、日本、ZG、澳大利亚、比利时、捷克等国家的众多客户参观了TESCAN的展位，本次TESCAN展位上的所有仪器都受到了这些与会者的强烈关注，其中ZX发布的TESCAN CLARAZ引人注目，在会议DY天就进行了多次演示和说明。所有TESCAN仪器的演示时间都在会议的DY天就被预约完。

ZX发布的 TESCAN CLARA

本次会议上，您还可以在Oxford（牛津）展位（Oxford BOOTH #915）上看到TESCAN公司的MIRA3 LM型热场发射扫描电镜，在这台仪器上同时安装了Oxford公司的2台能谱和1台EBSD。

Oxford展位上的MIRA3 LM

在EDAX公司的展位（EDAX BOOTH #428）上您也可以看到MIRA3 XM型热场发射扫描电镜的身影。

EDAX展位上的 MIRA3 XM

TESCAN就在这里，与您相会在 M&M 2019!

展会日期：2019年8月5日~ 8日

展会地点：美国·俄勒冈州·波特兰市 

TESCAN BOOTH #1108

活动安排（8月6日）