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广州日横电子科技有限公司长期现货供应,谢小姐一八九二伍零贰伍柒伍柒。
日置HIOKI化学阻抗分析仪IM3590用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容)日置HIOKI化学阻抗分析仪IM3590适用于离子运动和溶液电阻测量,1mHz~200kHz的宽范围信号源1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查可测量电池的无负载状态产生的内部电阻Z快2ms的高速测量,实现扫描测量的高速化基本精度±0.05%,零件检查到研究开发测量均可对应适用于Cole-Cole图、等效电路分析等电器化学零件和材料的电阻(LCR)测量基本参数日置HIOKI化学阻抗分析仪IM3590测量模式LCR模式,连续测量(LCR/分析),分析模式(频率或电平扫描,温度特性,等价电路分析)测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,Rdc(直流电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q,T,σ(导电率),ε(介电常数)测量量程100mΩ~100MΩ,10档量程(所有参数均由Z规定)显示范围Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,σ,ε:
公司地址:广州市天河区宦溪石宦路12号桃园居20号铺
±(0.000000[位]~9.999999G[单位])仅Z和Y为值显示
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),Δ%:±(0.0000%~999.9999%)
T:-10.0℃~99.9℃基本精度Z:±0.05%rdg.θ:±0.03°测量频率1mHz~200kHz(1mHz~10Hz步进)测量信号电平普通模式:
V模式,CV模式:5mV~5Vrms,1mVrms步进
CC模式:10μA~50mArms,10μArms步进
低阻抗高精度模式:
V模式,CV模式:5mV~2.5Vrms,1mVrms步进
CC模式:10μA~100mArms,10μArms步进输出电阻普通模式:100Ω,低电阻高精度模式:25Ω显示彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF测量时间2ms(1kHz,FAST,显示屏OFF,代表值)功能DC偏压测量,直流电阻温度补偿(标准温度换算显示),温度测量,电池测量(自动DC偏压外加方法),BIN测量(分类功能),面板读取保存,存储功能接口EXTI/O(handler),USB通讯,USB存储
选件:可安装RS-232C/GP-IB/LAN其中之一电源AC100~240V,50/60Hz,50VAmax体积及重量330W×119H×168Dmm,3.1kg附件电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,使用软件)×1日置HIOKI元器件测量仪器SMD测试治具IM9201基本参数日置HIOKI元器件测量仪器SMD测试治具IM9201可用频率范围DC~3GHz可测样品尺寸0603,1005,1608,2012,3216,3225(JIS单位mm,相当于EIA0201~EIA1210尺寸)电极结构底部电极日置HIOKI元器件测量仪器SMD测试治具IM9201Zda输入电压±42Vpeak(AC+DC)适用机型IM7580,IM7580A,IM7581,IM7583,IM7585,IM7587※
※测试频率高达3GHz,近日发售追加误差阻抗:±Ze[%]
相位:±0.58×Ze[°]
Ze=Ae+(Zse/Zx+Yoe×Zx)×100
Zx:阻抗测量值[Ω]
Ae:4×f2[%]
Zse:(100+500×f)/1000[Ω]
Yoe:(10+100×f)/1000000[S]
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- 2005-01-31 09:23:12
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