日本电子

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  日本电子 自动进样场发射透射电镜 JEM-F200应用领域

  以下内容以产品知识普及为主，结合常见采购与使用场景整理核心参数、型号要点、关键特点与场景化问答，方便对比与决策。 [详细]

  2025-12-09 19:15

  应用方案

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  日本电子 自动进样场发射透射电镜 JEM-F200参数

  本文以产品知识普及为主，列出核心参数、型号分支与功能特点，便于技术对比与选型。以下信息基于公开规格区间，实际参数以出厂配置单为准。 [详细]

  2025-12-09 18:45

  技术参数

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  日本电子 自动进样场发射透射电镜 JEM-F200特点

  它将自动进样能力与场发射透射显微镜的成像性能结合，适合材料科学、电子器件、能源、催化以及跨学科的微观表征需求。以下要点聚焦于产品知识普及与数据化参数，帮助专业读者快速把握其能力边界与应用场景。 [详细]

  2025-12-09 18:15

  工作原理

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• 二维共价晶体库：原子自插层实现全新晶体结构及铁磁序

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  2020-09-03 15:21

  产品评测

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• 热场发射扫描电子显微镜 JSM-IT700HR 发布

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  2020-08-05 10:58

  工作原理

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• JEOL透射电子显微镜上【科普ZG】了

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  2020-07-14 13:29

  工作原理

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• JEOL IDES 新品-JEM-2100时间分辨电子显微镜

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  2020-06-11 15:34

  工作原理

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• 如何用校正曲线法对钢铁中含量低于1%的C元素进行定量分析？

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  2020-04-02 10:58

  应用方案

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• 电子探针中重叠峰的解决方法之一操作步骤

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  2020-04-02 10:31

  应用方案

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• 电子探针显微分析仪-FE-EPMA 的锐化分析

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  2020-04-02 09:29

  应用方案

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• SEM低温下观察面条截面

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  2020-03-17 09:57

  维修保养

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• 不同的冷冻方式得到不同的观察结果

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  2020-03-17 09:48

  工作原理

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• X射线荧光分析仪-黄铜管路配件的裂纹分析

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  2020-02-12 13:41

  应用方案

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• JEOL FE-SEM 采用**光阑角控制镜

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  2020-01-19 14:04

  科技文献

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• FE-EPMA 的锐化分析

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  2020-01-17 15:14

  应用方案

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• EPMA 的分光晶体

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  2020-01-17 15:01

  选购指南

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