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- 应用分享 | 微区样品跨平台精确定位解决方案之操作篇（XPS & TOF-SIMS）
- 在《应用篇》中我们看到，HORIBA nanoGPS技术通过在样品旁固定定位芯片建立统一坐标基准，成功实现了跨平台微区样品的精确定位，展现出“易用、精确、通用”的三大重要优势。 [详细]
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2025-12-24 12:26
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- 应用分享 | 微区样品跨平台精确定位解决方案之应用篇（XPS & TOF-SIMS）
- 在微区样品（如纳米材料、生物单细胞、半导体缺陷等）的多维表征中，科研人员常需在同一区域联合使用多种技术平台（如拉曼、SEM、AFM等）进行测试。 [详细]
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2025-12-17 15:34
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- 应用分享 | 用于电池界面的冷冻X射线光电子能谱（XPS）
- 理解原始界面的化学环境是电化学、材料科学和表面科学领域长期追求的目标。电极-电解质界面（SEI）被认为是锂离子电池和锂金属电池中重要的固体界面。 [详细]
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2025-11-12 13:30
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- 应用分享 | TOF-SIMS质量分析器（下）：TRIFT结构及特点
- 在上一篇文章中，我们探讨了TOF-SIMS高精度测量所面临的挑战，指出质量分析器需要具备精密的离子光学设计以应对这些挑战。 [详细]
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2025-11-05 16:41
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- 应用分享 | TOF-SIMS质量分析器（上）：TRIFT起源及原理
- 质量分析器是质谱仪的重要部件，位于离子源和检测器之间，其功能是将离子源中产生的样品离子按质荷比（m/z）进行分离。三重聚焦飞行时间质量分析器(TRIple Focusing Time of fligh [详细]
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2025-10-29 15:58
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- 应用分享 | TOF-SIMS数据分析系列之质量校准
- 在TOF-SIMS数据的解析过程中，通常需要将实测二次离子的质荷比与标准数据库中记录的原子离子或分子离子的精确质量数进行比对，以确定二次离子所对应的元素或分子结构。 [详细]
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2025-10-22 11:05
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- 应用分享 | TOF-SIMS 在电池表界面研究中的深度解析
- 在电池界面研究中，TOF-SIMS能够解决传统表征方法难以应对的挑战：精确解析纳米级SEI/CEI膜的化学成分随深度的变化规律；可视化不同组分在界面层中的三维空间分布；追踪充放电过程中界面演化的动态过 [详细]
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2025-10-15 10:36
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- 应用分享 | 反光电子能谱IPES专辑之应用案例（二）-XPS
- 有机太阳能电池（Organic Solar Cells，OSCs）因成本低、柔性好、工艺简单等优势，在移动电子、建筑光伏一体化等领域极具应用潜力。然而，有机薄膜的表面能级结构表征不足严重制约了器件性能 [详细]
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2025-09-11 11:51
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- 应用分享 | 跨尺度多模态成像在地外样品有机质研究中的应用（TOF-SIMS）
- 地外样品中的有机质研究对于揭示生命起源以及探索太阳系前生命分子的形成与演化机制具有极其重要的意义。近年来，日本隼鸟2号（龙宫小行星）与NASA冥王号（贝努小行星）任务均成功返回了含有复杂有机质的样品。 [详细]
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2025-07-30 16:26
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- 应用分享 I XPS中俄歇峰与AES俄歇谱的差异
- X-射线光电子能谱（XPS）和俄歇电子能谱（AES）都是广泛应用于材料元素组成的表面分析技术，分别通过光电子特征峰和俄歇电子特征峰识别元素。 [详细]
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2025-05-07 16:09
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- 应用分享 | TOF-SIMS高效且热稳定的反式钙钛矿太阳能电池
- 随着全世界可再生能源需求的迅速增长，太阳能光伏技术已成为应对能源危机与环境污染的关键解决方案。其中，钙钛矿太阳能电池因其具有高光电转换效率、低材料成本及轻质结构等优势，在太阳能光伏领域备受瞩目。 [详细]
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2025-04-30 14:25
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- 应用分享 I 资源所发现新矿物“白鸽矿”-XPS
- 新矿物研究,是地球科学领域重要的基础性研究工作.新矿物的发现不仅可以增加自然界的矿物种类,同时也可以为人类认识和利用自然界矿物提供新的参考. [详细]
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2024-12-18 16:23
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- 应用分享 I 微区 XPS 在摩擦学研究与抗磨材料开发中的应用
- 摩擦副之间的相对运动必然会产生摩擦和磨损，全球约 80%的机械零件失效都是由摩擦磨损造成的。此外，地球上每年近三分之一的一次能源消耗被用来克服各种系统和设备的摩擦，这不仅造成了大量的能量损失，而且限制 [详细]
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2024-12-18 15:26
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- 应用分享 | AES俄歇电子能谱专辑之应用案例(二)
- AES作为一种先进的电子束探针表征技术,在纳米级乃至更高精度的空间分辨要求上展现出了强大的优势,因此非常适用于纳米尺度材料的表征. [详细]
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2024-11-20 15:58
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- 应用分享 | 氩离子设备 (XPS、PHI710、TOF-SIMS)
- 对于表面分析，样品表面极易被污染。利用离子设备发出的离子束定量地剥离一定厚度的表面层,然后再分析表面成分,这样就可以获得元素成分沿深度方向的分布图。 [详细]
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2024-11-13 14:06
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- 应用分享 | TOF-SIMS在有机样品分析中的利器
- 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）作为重要表面分析技术，不仅能够提供有机材料表面的质谱图、还可以观测表面离子空间分布以及膜层深度分布信息，展现出了广泛的应用前景和巨大潜力。 [详细]
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2024-10-23 12:50
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