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法国Cameca

从1929年成立以来,CAMECA即以其精密机械,光学和电子学而闻名。自二十世纪五十年代开创电子探针微分析(EPMA)和二十世纪六十年代二次离子质谱(SIMS)以来,CAMECA一直是这些技术领域无可争议的世界领先者,同时在互补技术领域实现了众多突破性创新,如低能电子诱导X射线发射光谱法(LEXES)和原子探针层析成像法(APT)。
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