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美国AEP

美国AEP Technology Inc.公司位于全球的创新圣地加州硅谷。创立于2007年,团对的核心人员有超过20年的表面检测技术设备制造和设计经验。作为公司名誉董事,美国斯坦福大学的电子工程系著名的半导体检测技术专家,前系主任Fabian Pease教授,给予公司发展的最大支持,也让AEP公司独特的多模式技术成为表面形貌检测新技术的领导者。 成立以来AEP公司推出了探针扫描式三维表面形貌仪,“纳米尺度”台阶仪,多模式三维表面轮廓仪等,都成为行业的引领,其核心专利技术保证,至今没有其他公司超越。
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