铜铟镓硒薄膜原子分数标准物质

CRM for Atomic Fractions of Cu(In,Ga)Se2 Film

    本标准物质主要用于铜铟镓硒薄膜元素组成分析仪器（如 X 射线光电子能谱仪等）的校准、分析方法的确认与评价以及测量质量控制等。

一、样品制备

    本标准物质通过共蒸镀法将铜、铟、镓和硒元素沉积在玻璃基底上成批制备而成，切割形成正方形片状样品（ 10 mm×10 mm×2 mm）。

二、溯源性及定值方法

    本标准物质的量值为铜铟镓硒薄膜中铜、铟、镓、硒的原子分数（等同于摩尔分数），采用电感耦合等离子体发射光谱方法（ ICP-OES）多家实验室合作定值， 以 6 家实验室定值结果的总平均值作为标准值。通过以量值具有溯源性保证的美国 NIST 标准物质（ SRM 3114、SRM3124a、SRM3119a、SRM3149） 作为校准物， 使用经确认的定值测量程序和经检定/校准的天平等计量器具， 确保量值ZZ溯源至物质的量的 SI 基本单位摩尔（ mol）。

三、特性量值及不确定度

    标准值的不确定度由定值测量程序、多家实验室定值测量结果的分散性、标准物质均匀性和稳定性等引入的不确定度分量组成。

四、均匀性及稳定性评估

    参照JJF 1343 国家计量技术规范（等效 ISO 指南 35），采用 ICP-OES 检测方法，按照随机抽取原则对样品进行均匀性评估，评估结果表明样品均匀性良好；采用 ICP-OES 检测方法，对样品进行稳定性评估， 评估结果表明样品稳定性良好。本标准物质自定值日期起有效期 36 个月，研制单位将继续跟踪监测该标准物质的稳定性，有效期内如发现量值变化，将及时通知用户。

五、包装、贮存及使用

    本标准物质固定放置在氟化聚丙烯圆盒中，圆盒真空密封包装于铝箔袋中，每盒 1 片。标准物质应贮存在阴凉干燥的室温环境中，运输和保存过程中必须保持包装的完整。使用过程中必须保证样品表面清洁。可采用惰性气体轻吹方法进行清洁。

六、合作者

    ZG计量科学研究院、北京化工大学、北京师范大学、北京有色金属研究院、赛默飞（北京）实验室、胜科纳米（苏州）有限公司。

声明

1．本标准物质仅供实验室研究与分析测试工作使用。因用户使用或储存不当所引起的投诉，不予承担责任。

2．收到后请立即核对品种、数量和包装，相关赔偿只限于标准物质本身，不涉及其他任何损失。

3．仅对加盖“ZG计量科学研究院标准物质专用章”的完整证书负责。请妥善保管此证书。

4．如需获得更多与应用有关的信息，请与技术咨询部门联系。