53种矿物 | 该载物台包含53种精选的矿物和化合物(可提供分析数据),每种材料的晶粒内部和晶粒间具有高度的同质性,并且在真空、大气环境和电子束中性能稳定。有些人工合成的材料同质性更高。标准样矿物载物台都内置有法拉第筒(FC)。 所有53种矿物材料均装在一个直径25mm、厚4mm的无磁不锈钢盘上,其具有理想的最大导电率和高真空兼容性。 1.钠长石NaAlSi3O828.硬玉NaAlSi2O62.贵榴石Fe3Al2Si3O1229.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti,Si6Al2O22(OH)23.硬石膏CaSO430.白铁矿FeS24.磷灰石Ca5(PO4)3F31.辉钼矿MoS25.重晶石BaSO432.独居石(Ce,La,Y,Th)PO46.蓝锥矿BaTiSi3O933.黑曜石Na,K,Al,Fe silicate glass7.黑云母K(Fe,Mg)3AlSi3O10(OH)234.橄榄石(MgFe)2SiO48.铯榴石CsSi2AlO635.斜长岩(Ca,Na)Al(Al,Si)Si2O89.溴碘化tuo TlBr 42%, TlI 58%36.镍黄铁矿(Fe,Ni)9S810.钙蔷薇辉石(Mn,Ca)SiO337.红榴石Mg3Al2Si3O1211.方解石CaCO338.石英SiO212.锡石SnO239.蔷薇辉石MnSiO313.天青石SrSO440.金红石TiO214.赤铜矿Cu2O41.透长石KAlSi3O815.绿泥石Mg6AlSi3O10(OH)842.闪锌矿ZnS16.铬透辉石(Mg,Cr)CaSi2O643.锂辉石LiAlSi2O617.氧化铬FeCr2O444.辉锑矿Sb2S318.辰砂HgS45.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl19.方钴矿CoAs346.硅锌矿(ZnMn)2SiO420.赤铅矿PbCrO447.方晶锆石ZrO221.透辉石MgCaSi2O648.砷化镓GaAs22.白云石MgCa(CO3)249.氮化硼BN23.萤石CaF250.硒化铋Bi2Se324.方铅矿PbS51.钇铝石榴石Y3Al5O1225.赤铁矿Fe2O352.硅化镍Ni2Si26.磁铁矿Fe3O453.碲化锑Sb2Te327.方镁石MgO |
| 1.铍Be12.铁Fe23.钌Ru34.钨W2.氮化硼BN13.钴Co24.铑Rh35.铼Re3.碳C14.镍Ni25.钯Pd36.锇Os4.镁Mg15.铜Cu26.银Ag37.铱Ir5.铝Al16.锌Zn27.镉Cd38.铂Pt6.硅Si17.锗Ge28.铟In39.金Au7.钪Sc18.砷化镓GaAs29.锡Sn40.溴碘化tuo Tl(Br,I)8.钛Ti19.硒Se30.锑Sb41.铅Pb9.钒V20.锆Zr31.碲Te42.铋Bi10.铬Cr21.铌Nb32.铪Hf43.钍Th11.锰Mn22.钼Mo33.钽Ta44.铀U 该载物台包含41种金属元素标准样和3种硬度超过金属的化合物,共计44种不同元素材料,适用于WDS、EDS和微探针仪器等。最初标准样是44种纯金属,后来由于硼、镓、tuo在稳定性和制备方面的问题,我们开发了这几种金属的化合物。我们没有将这几种材料从载物台上去掉,而是保留了"44种金属"的特征。多年来,一直受到广大显微分析人士的赞赏和认可。 所有元素纯度不低于99%,多数甚至超过“99.99%”。我们可以为您提供具体的纯度列表。 那些可用于现代“无窗”EDS系统和未被列入微量分析标准样的轻质元素,也包含在此产品中并内置法拉第筒。所有44种元素均装在一个直径25mm、厚4mm的不锈钢载物台上。 该产品还可分割为3个直径12.5mm的不锈钢载物台,每个也内置有法拉第筒,适于连接到SEM载台。 |
能谱检测标样 | X射线能谱仪标样的主要功能: 1.便于用户可以更好地对比和检验各个能厂家产品的优劣,有利于用户的订货和仪器的验收。 2.有利于用户对正在使用中的能谱仪进行统一的仪器自检,及时了解仪器的状态,有利于分析测试参数的及时调整。 因此,每个实验室自备一套能谱仪性能检验的标样十分必要。为满足这一需求,我们特研制了这一组合。 |
15种稀土金属及氟化物晶体 | 1.钇金属Y6.钐金属Sm11.钬金属Ho2.氟化镧LaF37.氟化铕EuF312.铒金属Er3.氟化铈CeF38.钆金属Gd13.铥金属Tm4.氟化镨PrF39.铽金属Tb14.镱金属Yb5.氟化钕NdF310.镝金属Dy15.氟化镥LuF3SPI Supplies的十五种稀土元素标准样装载于一个直径1" (25mm)、高6mm的圆盘中,此载物台是UHV兼容的,并且可以适用于任何UHV系统。载物台经过碳镀覆,保证了金属或氟化物晶粒与导电地面之间的导电性。就象其它SPI标准样载物台一样,其也具有一个用于精确测量射束电流的法拉第杯(FC)。 该产品有直径0.5"(12.5mm)的型号。 |
15种稀土“五磷酸盐”晶体 | 我们现为X射线能谱仪(EDS)及波谱仪(WDS)微量分析系统提供一种独特的新型载物台,它是SPI现有优质微量分析标准样中又一个“ZG”产品。该载物台含有15种稀土“五磷酸盐”,化学式均为ReP5O14,其使此15种不同的稀土元素都适用于EDS、WDS及备用的微探针仪器中。正如其他微量分析标准样一样,该标准材料也被装载于不锈钢载物台上与超高真空环境相兼容,且其表面镀有轻度碳层可以导电。我们也提供未经镀碳的载物台,但此时单独的标准样本就要装载于填充有导电树脂的铜块儿中。
贮藏条件 |
59种金属/矿物组合 | 1.铍Be16.锌Zn31.碲Te45.橄榄石(MgFe)2SiO42.氮化硼B17.锗Ge32.氟化钡BaF246.透辉石MgCaSi2O63.碳C18.砷化镓GaAs33.铪Hf47.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti9Si6Al2O22(OH)24.镁Mg19.硒Se34.钽Ta48.黑云母K(Mg,Fe)3AlSi3O10(OH)25.铝Al20.锆Zr35.钨W49.硬玉NaAlSi2O66.硅Si21.铌Nb36.铼Re50.透长石KAlSi3O87.钪Sc22.钼Mo37.锇Os51.黑曜石Na, K, Al, Fe silicate glass8.钛Ti23.钌Ru38.铱Ir52.锂辉石LiAlSi2O69.钒V24.铑Rh39.铂Pt53.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl10.铬Cr25.钯Pd40.金Au54.天青石SrSO411.锰Mn26.银Ag41.方铅矿PbS55.铯榴石CsAlSi2O612.铁Fe27.镉Cd42.铋Bi56.独居石(Ce,La,Th)PO413.钴Co28.磷化铟InP43.钍Th57.辰砂HgS14.镍Ni29.锡Sn44.铀U58.方解石CaCO315.铜Cu30.锑Sb59.磷灰石Ca5(PO4)3F 内含59种惰性或高稳定性金属、矿物或化合物,既有合成物,也有纯品。每个载物台都附有一张简明图表,指明各标准样和套件的具体位置。通过电子束蚀刻的独有标签既方便用户识别,又方便样本批量生产。载物台高4mm,直径25mm,台体为不锈钢框架结构,内置标准法拉第筒。有时用户要求我们提供不含法拉第筒的载物台,为了降低一下产品的价格。其实,由于该产品已实现批量生产,其成本较低。如果我们单独制做一个特殊的、不含法拉第筒的载物台,其成本反而会更高。当然,我们愿意满足每一位用户的需求,但如果订量少于10个的话,不含法拉第筒的载物台不会比含法拉第筒的价格低。 注意:目前也有带12.52mm中心孔的25mm圆盘载物台,以满足扫描电镜载台的需要。 |
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全自动控制,操作简捷 镀膜颗粒小,适用于场发射电镜等高倍样品观测,和电极制备 无高热损伤,适用于对温度敏感的样品 内置操作向导,无需培训即可熟练操作
裕隆时代向用户提供德国生产高度精密的扫描电镜3D图像测量及分析系统,通过背反射电子探测器(BSE)获取4通道信号,无需倾斜样品,即可帮助电镜用户快速便捷的获取高度精密的3D图像,有效提高电镜工作效率。
裕隆时代向用户提供高精度的电镜3D图像标准样品,帮助电镜用户确保电镜3D测量的准确度。 应用广泛,可用于扫描电镜SEM, 激光共聚焦显微镜CLSM,及原子力显微镜/扫描隧道显微镜
相比普通EBIC 基于更先进的薄片技术,STEBIC拥有更高的空间分辨率 将STEM电镜和EBIC功能完美结合,为用户提供更广阔的的研究手段
作为德国PE公司中国总代理,裕隆时代向用户提供专业的电子束感生电流分析系统EBIC EBIC电子束感生电流分析系统是一种基于扫描电子显微镜(SEM)的图像采集及分析系统,主要用于半导体器件及其他材料的失效及结构分析。 它通过分析电子束照射样品时在样品内产生的电流信号,以图像方式直观表征出样品特征、样品中P-N结位置、失效区域,并可以突出显示样品的非同质性区域,从而对样品进行全面分析。
作为德国POINT ELECTRONIC (PE) 公司中国区总代理,裕隆时代向用户提供专业的的电子束吸收电流分析系统EBAC/RCI。 EBAC/RCI电子束吸收电流分析系统,能够方便快速的定位半导体芯片电路中的短路及失效点位置,不但可以对同层电路,而且可以对次表层,甚至表层下第三层、第四层电路进行失效点的精准定位,因此能够对半导体芯片电路或相关材料进行快速准确的失效分析。 目前,集成电路芯片设计越来越复杂,关键尺寸和金属连线线宽越来越小,传统的失效点定位方法,如微光显微镜或光束又到电阻变化鞥,由于其分辨率不足,导致不能精确地定位电路故障点位置,电压衬度方法虽然在一些开路短路失效分析中能快速地定位失效点,但只是局限于电路同层分析。 EBAC/RCI电子束吸收电流分析系统是基于扫描电镜的分析系统,在保留扫描电镜高分辨率的前提下,能够对同层芯片电路进行高精准定位,同时能够对次表层甚至表面下第三、第四层电路进行失效点定位,因此越来越多的应用于先进制程芯片的失效分析。在涉及多层金属层的失效定位分析时,EBAC/RCI方法更加简便精确,可保证分析的成功率,并缩短分析周期。
裕隆时代向用户提供德国高品质超大型硬组织切片机MIKROTOME-XL,全面满足工业和实验室用户切割坚硬材料和大型样品需求。 切片机在实验室和工业制样中的优点: 高速高效:由于工作需要和材料本身缘故,通常样品制备需要一天甚至更长时间来进行包括样品包埋等准备工作,以满足样品的定性和定量分析。而切片技术可以更快的满足分析需求,通常仅需要5-30分钟就可以完成制样工作。 样品制备时始终干燥,避免了冷冻剂和润滑剂造成的样品变形 制样过程中不产生热压力,从而避免由此造成的样品破坏 自定义切片厚度,精确值微米级,以保证制样质量 新一代大型坚硬样品切片机 MIKROM-XL 全面突破常规切片机应用限制。MIKROM-XL大型切片机为用户提供更高的稳定性和样品尺寸限制,从而大大拓展了切片机的应用范围。 技术优势 样品尺寸可高达 260 x 200mm 对大型样品进行镶嵌包埋处理 刀具可以倾斜,已进行精密切片 可对坚硬样品和大型样品(如工件)等进行切片 可对样品侧面进行制样 切片窗口和样品尺寸相匹配,无需更多操作步骤,从而大大节省制样时间 保证制样工作的高度稳定性