TG-61321D三箱式冷热冲击试验箱

TG-61321D高低温冲击试验箱（3箱）仪器设备用途：

高低温冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适用的对象包括汽车电子/部件、LED/LCD/PDP显示照明、电子电工、仪器仪表、新能源/电子元件/电器、塑胶/橡胶/薄膜、科研/质检/院校/医院器材、PCB/FPC/HDI/MPCB/IC等行业领域等材料，可作为其产品品质验证或改进的依据和参考。

TG-61321D高低温冲击试验箱（3箱）构造概述：

高低温冲击试验箱/冷热高温低温试验室，因为冷热冲击试验箱也是高低温冲击试验箱，所以三槽冷热冲击试验箱也是三槽高低温冲击试验箱。主要结构是由三个槽（高温槽、低温槽、产品槽）组成，高温槽即是生产及储存高温，低温槽即是生产及储存低温，产品槽则是提供给顾客摆放产品的空间容积。冲击原理是采用气体驱逐高、低温槽的冷热温到摆放产品槽的空间内完成试验。

TG-61321D高低温冲击试验箱（3箱）适用于标准:

1：GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件；

2：GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；:

5：GJB 150.3-86 **设备环境试验方法 第3部分 高温试验；

6：GJB/T 150.4-2009**设备环境试验方法 第4部分 低温试验；:

7：GJB/T 150.5-86 **设备环境试验方法 第5部分 温度冲击试验。

8：GJB150.5- 86温度冲击试验;

9：GJB360.7-87温度冲击试验;

10：GJB367.2-87 405温度冲击试验;

11：GB11158-2008高温试验箱技术条件

12：GB10589-2008低温试验箱技术条件

TG-61321C高低温冲击试验箱（3箱）产品特点：

1： 泰规仪器生产的新一代高低温冲击试验箱（3箱），箱体结构、制冷系统、控制技术均有较大的技术改革，运行更可靠，维护更方便。

2：制冷机采用知名原装进口“泰康”或“ 比泽尔”。

3：控制系统采用彩色触摸屏中英文显示按键式操作，外观更加简单大方，操作设定简单。

4：高低温冲击试验箱根据待测试样的特殊性，分为两箱式幼态冲击和三箱式静态冲击。本产品既可作冷热冲击实验，也可以做单独高温或单独低温使用。

5：测试样品一直处于静止状态，减少对样品的机械冲击，其温度转换通过气动系统打开（关闭）不同风门来实现，有测试孔，可带电，带信号，带气源测试。可实现5℃/min-30℃/min可调。

6：高低温冲击试验箱配备: SD卡储存，USB输出，电脑连接打印，大舱有纸无纸记录等选配。

7：箱体加工采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。壳体采用优质碳素钢板.磷化静电喷塑处理或（选配）SUS304不锈钢雾面线条发纹处理，内部材质均采用SU304高级不锈钢材质。

8：高低温冲击试验箱配备大型观测视窗附国际品牌照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。

TG-61321D高低温冲击试验箱（3箱）技术参数：