高分辨率近红外光纤光谱仪
高分辨率近红外光纤光谱仪
产品特点 * 波长范围：900-2600 nm（11000–3800cm-1） * 高分辨率< 4cm-1(0.6nm @1.0μm，0.95nm @1.55μm 1.6nm @2.0μm) * 高信噪比：>30'000:1（@8cm-1分辨率, 1 min积分时间） * 内置二级TE制冷探测器，高灵敏度 * 光纤输入，灵活易用 | 典型应用 * 激光光谱测量 * 近红外光谱分析 * 材料检测 * 矿物，宝石鉴定 * 材料表征 |
型号 | FTNIR-L1-026-0TE | FTNIR-L1-025-2TE |
探测器 | 扩展型非制冷 InGaAs | 扩展型2级TE制冷 InGaAs |
光谱范围 | 0.9−2.6μm (11000−3850cm-1) | 0.9−2.5μm (11000−4000cm-1) |
干涉仪类型 | 免校准的双Retro反射镜 | |
内置参考激光器 | 全固态795nm激光器 | |
分辨率 | 4 cm-1 | |
测量时间(Min) | 1 sec | |
信噪比 (SNR) | >30’000:1 | |
波数重复性 | <20 PPM | |
光纤输入接口 | SMA 905接头, 芯径可达1mm, NA=0.25 | |
通信接口 | USB 2.0 | |
供电 | 7.5-12V (1-6W) | |
软件 | Windows 7/10 software | |
工作温度/湿度 | 5 to 35℃ / non condensing | |
储藏温度 | -10 to 60oC | |
尺寸 | 180 x 126 x 78 mm3 | |
重量 | 1.7 KG | |
报价：￥1000
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适于测量各种固体与液体样品的光谱特征，实现无损鉴定物质成分含量。
RED-Wave 红外InGaAs 光纤光谱仪，光谱范围900-2300nm，TEC制冷到-10°C，信噪比可以做到4000：1。积分时间1ms到30s。该红外InGaAs 光纤光谱仪的*高分辩率可以达到3.1nm。
DWARF-Star是StellarNet公司设计的近红外光纤光谱仪，体积小，结构稳固，配有高精度的InGaAs探测器，光场覆盖900-1700nm，光谱分辨率达到1.25nm，适用于OEM客户。
Green-Wave 经济型光纤光谱仪，小型尺寸设计，工业应用和实验室教学的品质选择，低成本，光谱范围350-1150nm，分辨率*高达0.2nm。USB接口供电，14bit的AD转换速度。
适于测量各种固体与液体样品的光谱特征，实现无损鉴定物质成分含量。
瑞士Arcoptix
瑞士ARC
营业执照已审核
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沪公网安备 31011502008050号