产品介绍：

     Chimera冷却系统同样用于粉末X射线衍射平台，利用封闭循环的He气对样品台进行控温。适用于反射模式的垂直测角仪，为粉末样品的高低温实验提供温控方案。

原理同PheniX冷却系统，无需液氦的消耗
适用于市场上大多数垂直测角仪；
可进行远程监视、控制；
用于反射模式衍射实验，非常适合粉末样品的相变分析

技术参数：