产品介绍：

TST350型张应力测试热台成功地将温度控制下的张应力测试过程与显微观察相结合，不仅可以测试从室温到350℃温度下材料的张应力特性，同时可以观察材料在测试过程中的光学性能变化以及断裂过程，也可根据需要增加电极。

技术参数：
性能参数：

温度范围：-196℃到350℃

易于安装便于显微镜观察

样品易于安放

样品宽度0.001到22mm

样品厚度0.001到2mm

最小样品长度26mm

拉伸速度范围：1-1000um/s

张力范围：0.01N到20N或0.1到200N

张力分辨率：0.01N或0.1N

最 大行程：80mm

位置分辨率：10um

物镜工作距离：7.5mm

聚光镜工作距离：12.5mm

温度控制速率：0.01到30℃/min