FT-343 双电测电四探针电阻率测试仪

FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪

一. 应用说明：

覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪
二．描述：

采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪
三.参数资料

规格型号 FT-343

1.方块电阻  10-3～2×105Ω/□

2.电阻率  10-4～2×106Ω-cm

3.测试电流  0.1μA.μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.电流精度  ±0.2%

5.电阻精度  ≤0.3%

6.显示读数 屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式 双电测量

8.电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W

9.误差 ≤3%（标准样片结果）

10.选购功能 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.

11.测试探头 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针

覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试