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土样全表面变形图像测量系统HC-DITR-3D

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产品特点

具有国际先进水平(国际专利)的测量系统。它不是一款完整的测试设备,但是可以配套目前实验室所有的三轴试验仪、平面应变仪和动三轴试验仪使用。

详细介绍

土样全表面变形图像测量系统是专门面向岩土及颗粒材料测试的具有国际领先水平的位移应变测量解决方案,一台相机实现试样表面360°方向上的变形,解决了传统试验仪器试样变形测量困难等问题。目前可以配套各类三轴试验系统、平面应变系统和动三轴试验等系统。


系统组成

——图像测量压力室、图测采集硬件、HC-DITR-3D图测软件及后处理软件


系统特点

——不扰动试样,真正非接触测量

——真正实现单机测量土样环周全表面变形场位移场测量>同步测量轴向变形和环向变形

——任意选择测量断面或部位分析

——分层、细部特征和剪切破坏过程研究

——应变测量精度比传统方法至少高出两个数量级

——消除端部约束和膜嵌入的影响


技术参数

——相机分辨率:2592×1944

——在测量视场165mm(H)×24mm(V)及正常室温条件下,其变形测量精度均为微米量级

——以5mm×5mm的标定长度(加工精度为0.25微米)进行实际测量,误差X方向   为0.0065mm,Y方向为0.0081mm,相对误差为微米量级

——用金属材料以应变片测量值为基准检定的测量平均误差为0.007%。对本体的应变测量精度   可达0.00001,对镜像的应变测量精度可达0.0001

——土样规格:39.1mm×80mm、50mm×100mm;可升级更大尺寸(61.8mm×125mm)


可应用仪器

——各类静/动三轴测试系统

——各类材料测试系统

——平面应变测试系统


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