LP110 叶面积指数测量仪

LP110 叶面积指数测量仪产品介绍：

  LP110 叶面积指数测量仪用于测量阔叶冠层的叶面积指数（Leaf Area Index，LAI）。叶面积指数是指单位土地面积上植物叶片总面积占土地面积的倍数。即：叶面积指数=叶片总面积/土地面积。

用于测量阔叶冠层的叶面积指数（Leaf Area Index，LAI）。叶面积指数是指单位土地面积上植物叶片总面积占土地面积的倍数。即：叶面积指数=叶片总面积/土地面积。LaiPen叶面积指数测量仪计算LAI和其他冠层结构参数是基于宽角度辐射传感器接收到的太阳辐射。在冠层上部和下部的测量结果用来确定冠层的光截获，使用冠层辐射传递模型计算LAI。其他测量LAI的仪器，一般都需要有云或者特定日倾角才能达到较好的性能，而LaiPen在大部分日照条件下都可以得到准确的数据，能够在多种环境条件下为科学家提供快速可靠的测量结果。 

有两种操作方式：单传感器模式——使用同一台仪器在测量前、后或测量中进行参照测量；

                            双传感器模式——使用第二台仪器进行参照信号的自动测量和记录。

应用领域：       

冠层生长与生产力       

森林动态       

空气污染、虫害、病害等胁迫对植物的影响       

遥感数据的地面校准和验证       

碳循环 

技术参数：