6433系列光波元件分析仪（10MHz～67GHz）

6433系列光波元件分析仪（10MHz～67GHz）

一、6433系列光波元件分析仪概述

       6433系列光波元件分析仪包括6433D（10MHz～26.5GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）4个型号。6433系列光波元件分析仪是面向高速电光（E/O）器件、光电（O/E）器件、光光（O/O）器件特性测试的解决方案，调制频率范围覆盖10MHz~67GHz，支持不同频率范围、频率间隔、中频带宽的设置，频率分辨率达到1Hz。6433系列采用一体集成的设计方案，通过宽带硬件优化设计，构建网络误差模型，利用核心校准算法，实现一键式宽带快速扫频测试，主要用于现代高速光传输系统中核心的电光器件（电光调制器、直接调制激光器、光发射组件）、光电器件（PIN光电探测器、APD光电探测器、光接收组件）、光光器件（光纤滤波器等光无源器件）的带宽、幅频响应、相频响应、群时延等参数测试.

二、6433系列光波元件分析仪功能特点

• 校准方便快捷，向导式操作流程

• 一体化多功能操作界面

• 大动态测量范围，测量轨迹噪声小

• 用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用

• 单端-平衡光电器件模式测量

• 多功能化工具箱

• 内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围

• 具备光源输出功率快速自动校准功能

三、6433系列光波元件分析仪功能描述

• 校准方便快捷，向导式操作流程

6433系列光波元件分析仪在校准方面具有清晰的操作流程，主要包括电校准和光路参数校准，通过采用向导式操作提示为用户提供快速高精度校准。

• 一体化多功能操作界面

6433系列光波元件分析仪具备了电电、电光、光电、光光四种测量模式，四种光电校准模式，功能模式之间可任意切换，满足目前绝大多数通用器件的S参数、阻抗、时域等参数测量需求。

• 大动态测量范围，测量轨迹噪声小

采用高精度和响应平坦的内部核心器件，结合设定不同的中频带宽值，可获得更大的动态测量范围和更小的轨迹噪声，可以获取测量结果的更多细节。

• 用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用

通过用户自定数据或夹具去嵌入数据提升测量精度，尤其在片测试时所需的探针误差移除时，使得测量更加灵活，满足用户不同场合的测量需求。

• 单端-平衡光电器件模式测量

仪器可通过选用不同的配置，满足单端-单端和单端-平衡的光发射或光接收器件或组件对差分增益和共模抑 制参数的测试需求，更加贴合现有和未来高速光纤通信领域中多端口参数的测量场合。

• 多功能化工具箱

光发射与光接收结构一体化集成和功能互联，内置大动态范围光功率计，可实时监测输入光功率数值，用于内外光源功率校验；通过设置，为M-Z型LiNiO3调制器提供所需的保偏光源。光接收模块绝 对 频率响应大于-3dB，更好地提取微小信号；双端口光接收测量，提供更宽的测量范围选择。

• 内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围

测试不仅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1610nm的外部光源输入，覆盖更宽的通信波长，满足CWDM、DWDM系统核心器件测量需求。

四、6433系列光波元件分析仪主要参数

五、6433系列光波元件分析仪典型应用

• 电光器件特性分析

电光调制器、直接调制激光器等电光器件的S11参数和S21参数测试，通过多窗口对比分析，用户能更快获取测试对象的各频点反射和传输特性。

• 光电器件频率响应特性测试

实现光电探测器等光电器件的10MHz~67GHz频率响应测试，3dB带宽快速分析及精 准频响测试可满足科研、产品线等测试需求。

• 相频响应特性分析

产品具有强大的相频响应特性测量功能，快速分析光电器件相位、群时延等参数。