销售 Agilent/安捷伦 E4991A 射频阻抗/材料分析仪 E4990A

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‌一、核心性能参数‌

1. ‌测量范围与精度‌

• 频率范围：1 MHz 至 3 GHz，分辨率达 1 mHz。

• 基本阻抗精度：±0.8%。

• 高Q值精度：支持低损耗元器件分析。

• 测试信号：可调范围100 μV 至 2 Vrms 或 1 μA 至 20 mA。

2. ‌扫描与偏置能力‌

• 振荡器电平：最高 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms。

• DC偏置（选件E4991A-001）：±40 V 或 ±50 mA。

• 支持201点可编程列表扫描。

3. ‌特殊测量能力‌

• 低ESR（等效串联电阻）测量：稳定性高，适用于高速/低功耗电路电容器。

• 高阻抗测量：可稳定测量飞法（fF）级电容。

‌二、关键功能特性‌

1. ‌分析技术‌
   采用射频电流-电压（RF-IV）技术，非反射测量，在宽阻抗范围内提供更精确结果。

2. ‌扩展选件‌

• ‌材料分析（E4991A-002）‌：1 MHz–1 GHz频段的介电/磁性材料特性测量。

• ‌晶圆测量（E4991A-010）‌：支持探针台连接，实现晶圆级阻抗测试。

• ‌温度特性套件（E4991A-007）‌：-55°C至+150°C宽温区分析，带温度漂移补偿。

3. ‌操作与接口‌

• Windows风格用户界面，内置VBA编程功能。

• 支持LAN数据传输。

‌三、典型应用场景‌

1. ‌元器件研发‌
   适用于电容器、电感器等无源元件在3 GHz内的阻抗参数测试。

2. ‌材料科学‌
   测量固体材料的介电常数、磁导率及损耗角（如半导体晶片、磁性材料）。

3. ‌温度依赖性分析‌
   通过选件E4991A-007评估元器件或材料在极端温度下的性能变化。