DMR-1C型方阻仪

在现代工业生产和科研领域，薄膜导电材料的性能检测至关重要。DMR-1C型方阻仪作为通量科技（南通）有限公司的专业测量设备，凭借其高精度、多量程和稳定可靠的性能，成为塑料薄膜金属镀层及其他薄膜导电材料方阻测量的理想选择。

DMR-1C型方阻仪

通量科技（南通）有限公司DMR-1C型方阻仪是一种专用于测量塑料薄膜金属镀层方块电阻的仪器，也可以用于测量其它各种薄膜导电材料。由于方阻与镀层厚度成反比，可以通过称重法或者其它计量方法，由方阻推算出镀层厚度。仪器配有专用的、带弹簧的四探针探头。由于探针带有弹簧，使得测试时压力恒定，接触可靠，测试稳定，寿命也长。

技术参数

测量范围：1mΩ-2000Ω分为四个量程；

满度值：1999mΩ（分辨率：1mΩ，测试电流：100mA）；

满度值：19.99Ω（分辨率：10mΩ，测试电流：10mA）；

满度值：199.9Ω（分辨率：100mΩ，测试电流：1mA）；

满度值：1999Ω（分辨率：1Ω，测试电流：0.1mA）；

满度值：19.99KΩ（分辨率：10Ω，测试电流：0.01mA）。

基本误差：△=±2%；

仪器部分的基本误差：±0.2%±2个字；2000mΩ档为△=±0.2%±5个字。

工作环境：温度5℃-40℃；湿度20%-80%RH。

电源：220V±10%，50/60Hz，3VA。

外形尺寸：宽200×高80×深200（mm），重1.5kg。

通量科技DMR-1C型方阻仪通过将传统四探针法与智能化设计相结合，实现了薄膜导电材料从研发到量产的全流程质量控制。其模块化设计还支持功能扩展，如未来可集成霍尔效应测量模块，进一步满足宽禁带半导体材料的检测需求。对于追求工艺精细化的企业而言，该设备不仅是质量控制的工具，更是工艺优化的重要数据来源。