定性半定量散乱光光弹性应力仪SLP-2000日本折原

 散乱光光弾性应力仪SLP-2000 本装置可以用散乱光光弹性的原理测定以往无法测定的锂钠离子交换的化学强化玻璃。若表面附近有钾离子层的话，可以与表面应力计FSM-6000LE的数据相合成以分析断面的应力分布 1、不依存屈折率分。 2、方便对应曲面玻璃 3、能够定点测量 4、 激光光点直径10um 5、能够与FSM-6000的数据进行合成 散乱光光弾性应力仪SLP-2000规格参数 测量范围：应力值  0-2000Mpa、应力层深度  10-600um 测量精度：（应力值）5Mpa、（深度）5μm 应力层深度：10-600μm 光源：LD (518nm) 30mw Class 3B 测量对象：化学强化玻璃，2次化学强化玻璃，物理强化玻璃 测量尺寸：平面-1000R 10*10mm以上 PC：（OS、测量软件已安装） OS：Windows 10 professional edition 重量：10kg（本体） 尺寸：W320*D280*H220mm（本体）