技术指标：
● 可测量孔径范围从约 80 nm 到 500 µm
● 测量最DA孔径（泡点）、平均流量孔径、最小孔径、孔径分布、累积流量分布、气体渗透率等。液体渗透率和流体源是可选的。通过我们增强的数学模型，可以获得以下附加结果：
- 总孔数目
- 总孔面积（％和μm²）
- 开孔孔隙率
- 计算的渗透率（达西）
● 标准压力范围为 0-8 bar（116 psi），流速高达 200 l/min
● 采用我们正在申请专LI的 MP² 技术的压力步进平衡测量方法
● 确定泡点的 2 种方法：
- BP x-ml 是在用户定义的流速下测得的泡点。
- BP pCF 是以用户定义的累积流量百分比测量的泡点。
● 1 个直径 25 毫米的样品支架，样品厚度可达 3 毫米
● 配备 2 个流量传感器，可自动切换：
- 0-10 升/分钟
- 0-200 升/分钟
● 配备 2 个压力传感器，可自动切换
- 1bar(14.5 psi)
- 10bar (145 psi)
● 具有曲线拟合功能的 PoreSmart™ 软件
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已咨询269次比表面和孔隙度分析仪
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已咨询738次比表面和孔隙度分析仪
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已咨询3330次膜材料孔径分析仪
荷兰TE公司结合70多年来在高温燃烧及库仑滴定检测的经验，推出了XPLORERPlus 系列全自动总有机卤素分析仪，可以快速、精确地检测各种类型的有机卤素。并且通过模块化设计提供自定义解决方案, 从而满足未来的升级需要。
新一代 TN/TS/TX 精准分析技术，继承XPLORER经典基因，融合TSHR先进技术
SMILLA（Smart Modular Imaging Laboratory Liquid Analyzer）是一款采用高分辨率流式成像显微镜（HiRes-FIM）技术的前沿模块化解决方案，用于分析可见及亚可见颗粒。其灵活的设计可轻松适应实验室的特定需求，提供高效、精zhun且可重复的分析结果。
Theta Flow Wafer晶圆接触角测量仪是一款高端的晶圆全自动接触角测量仪器。该仪器包括Theta Flow Wafer光学接触角测量仪主机，可配置四个具有软件控制、可水平移动、可抛弃滴液头的自动滴液器，以及带自动旋转的全自动XYZ样品台。
数字相关器适用于PCS技术，如动态光散射、荧光相关光谱、扩散波光谱、扩散光学层析成像。
NanoLab 3D是一款紧凑型动态光散射（DLS）粒度测量仪器，基于开创性的专利调制三维互相关技术（Modulated 3D Cross-Correlation）。它有效地抑制了多重光散射，因此大多数样品不再需要样品稀释。
可变角度光散射仪（广角动/静态光散射仪）用于颗粒表征。LS Spectrometer是一种可变多角度光散射仪器（V-MALS）。在LS Spectrometer中，检测器安装在可移动的臂上，可以对几乎任何角度进行精确调整，从而提高测量灵敏度。LS Spectrometer结合专利的调制三维技术（Modulated 3D）（无稀释测量）和CORENN（改进的聚集检测），实现了市场上全面的纳米颗粒表征。
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