KEYSIGHT BT2152B 自放电分析仪

BT2152B 自放电分析仪可以测量锂离子电芯的自放电电流，让您可以更快分辨电芯自放电性能的高低，从而大幅减少电芯制造中的在制品库存数量

• 自放电电流的测量通道数每次可增加 4 个，最多达到 32 个通道

• 电芯电压量程：0.5 至 +4.5 V

• 电流测量准确度： ± (0.30% + 250 nA)

• 电压测量准确度： ± (0.04% + 0.1 mV)

• 电压源稳定度：± 3 μV 峰值（24 小时），± 0.85 μV 峰值（1 分钟）

• 电流量程：± 10 mA

Keysight BT2152B 自放电分析仪可以直接测量锂离子电芯的自放电电流， 并且可以显著加速分辨电芯自放电性能的高低， 从而大幅降低电芯制造商的在制品库存、营运资本费用和设施成本。

自放电分析仪可以准确测量电芯的自放电电流和电压。 取决于电芯的特征，测量只需几分钟或几小时即可完成，无需像以往那样耗费数天或数周的时间，通过测量开路电芯电压来区分电芯的优劣。

这种自放电分析仪具备准确测量电流所需要的各种功能特性，能够采用精密的恒电位测量法快速测量自放电电流。

• 尽量减少对电芯的干扰

  • 施加给电芯的电压与实际电芯电压快速匹配。 这样就能尽量避免新的充电或放电，从而缩短新的 RC 建立时间。

  • 施加给电芯的电压非常稳定（± 3 μVpk），可以最大限度降低自放电电流噪声对放电电流测量的影响。

  
  

• 测量低电平自放电电流的准确度可达 ±(0.30% + 250 nA)

锂离子电芯制造商保有的电芯在制品库存数量要远远超过他们的预期，这是因为他们需要对电芯进行老化测试。

目前，确定电芯自放电特性是否在允许范围内，这一步骤所需的时间在总体老化时间中占大头。 这段时间通常很长，主要由测量 OCV 变化（ΔOCV）需要多长时间决定。 减少电芯在老化过程中处于在制品库存状态的时间，可以节省成本，并直接提高盈利。

通过检查电芯制造过程中的化成和老化过程的典型模型，并对比直接测量电芯自放电电流法与传统的 OCV 法，可以看出直接测量自放电电流法有助于改进老化过程，并节省成本。

确定电芯自放电性能的高低，需要经过两个步骤。 第一步，在 5 天的老化期之后，可执行 ΔOCV 测试，将可以明显分辨性能高低的电芯与“可疑”电池分开，其中 ΔOCV = OCV2 – OCV1。 然后对“可疑”电芯进行更长时间的老化，再进行一次 ΔOCV 测试，其中 ΔOCV= OCV3 – OCV2。 大多数电芯只需要较短的老化时间，但是部分“可疑”电芯则需要长得多的老化时间，才能确定它们的自放电特性是否在允许范围内。

这种确定电芯自放电性能高低的方法同样分成两步。 第一步与 ΔOCV 测试一样，其中 ΔOCV = OCV2 – OCV1。 接着直接测量“可疑”电芯的自放电。 传统的“可疑”电芯老化时间测量通常需要持续至少 4 周，而直接测量只需要大约 1 小时不到。

如果生产的电芯共有 10％ 被列为“可疑”，需要在首次 ΔOCV 测试之后对“可疑”电芯再进行一次测试或老化测试，那么直接测量自放电法与老化测试法相比，总体时间缩短大约 81％（7天对 37 天）。 由于不需要执行时间较长的“可疑”电芯老化步骤，直接测量法可以使老化测试中的电芯总数减少 30%。 这样就直接降低了对在制品库存和设施的要求。

您可以下载运营资本成本和设施成本的成本节省模型，比较 ΔOCV 法与直接自放电测量（SDM）法。 这个模型使用 Microsoft Excel 生成，下面提供了模型工作表供您下载和修改，确保其适合您所制造的每种电芯的实际情况。