HAST偏压老化测试试验箱

特点：

每颗器件的Vgs独立控制

实时监测每个试验器件的Id、Ig

控制上、下电时序

全过程试验数据保存于硬盘中，可输出Excel

试验报表和绘制全过程漏电流IR变化曲线

漏电流超限保护，自动切断测量回路

应用：

二极管，三极管，MOSFET，IGBT，SBD，GaN Fet, SCR以及各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏试验 。