维修 AMPTEK SDD检测器

维修AMPTEK  SDD检测器工作原理：

产品类型

• 普通 SDD 检测器：推荐需要中等能量分辨率和计数率的用户使用，典型分辨率为 125 eV，计数率通常为 200 kcps。

• FAST SDD® 检测器：是 Amptek 性能最高的探测器，可提供最佳的能量分辨率、最低能量 X 射线测量能力、最佳的峰背比和最高的计数率等，最大面积可达 70 mm²。

特点（以 70 mm² FAST SDD® 为例）

• 高能量分辨率：在 5.9 keV 时能量分辨率为 123 - 135 eV FWHM。

• 高计数率：计数率大于 2,000,000 CPS，与性能相同的 25 mm² SDD 相比，计数率提高了三倍。

• 高峰背比：峰背比可达 20,000:1，能有效区分特征 X 射线与背景信号。

• 多种窗口选项：提供 0.5 密耳（12.5 µm）Be 或 C2 (Si₃N₄) 窗口，可满足不同能量范围 X 射线检测需求。

• 低功耗：总功率小于 2 W，且可通过热电制冷器冷却，制冷功耗小于 1 W。

• 紧凑封装：采用 TO - 8 封装，尺寸小、重量轻，便于集成和安装。

应用领域

• 超快速台式和手持式 XRF 分析仪：可快速准确地进行元素分析。

• 扫描电镜（SEM）中的 EDS 系统：作为 EDS 系统的一部分，用于扫描 / 绘制样品谱图，分析样品的元素组成和分布。

• 在线流程控制：实时监测生产过程中的元素成分变化。

• X 射线分拣机：根据元素信息对物品进行分类筛选。