体积表面绝缘电阻测试仪

体积表面绝缘电阻测试仪采用高性能微处理器控制的绝缘电阻测试仪。输出电压1-1000v连续可调，可以测试5*10²Ω～1*10¹⁶Ω的直显电阻/电阻率（超出显示电流换算可到20次方），显示99999数,测试速度可达5次/秒。

仪器拥有专业分选功能，具有10组设置存储数据，多样分选讯响设置，配备Handler接口，应用于自动分选系统完成全自动流水线测试。内置RS232接口及LAN接口，用于远程控制和数据采集与分析。

计算机远程控制指令兼容SCPI（Standard Command for Programmable Instrument仪器标准命令集），高效完成远程控制和数据采集功能

高绝缘电阻测量仪用于测量绝缘材料、电工产品、各种元器件的绝缘电阻；与恒温水浴配套后，还能测量不同温度下的塑料电线电缆（无屏蔽层）的绝缘电阻，该仪器具有测量精度高、性能稳定、操作简单、输入端高压短路等优点，仪器的量程 16次方超出16次方显示电流通过换算可到20次方电阻值（测试电压为 1-1000V）。 本仪表贯彻 Q/TPGG 7-2008 高绝缘电阻测量仪企业标准。

体积表面绝缘电阻测试仪测量参数  绝缘电阻 R，泄漏电流 I，表面电阻 Rs，体积电阻 Rv

测试电压 1-1000v  1000个档位可以调

测试范围  电阻10²Ω~10 ¹⁶Ω基本覆盖半导电材料和超绝缘材料的电阻测量（超出显示电流换算可到20次方）， 电阻率可达到10²²Ω.cm

测量方式：手动/自动两种

界面语言选择：英文/中文 两种

显示位数：4/5位  两种选择

测量模式：三种

测试速度可选择  快速 5 次/秒，慢速 1 次/秒，两种可选

回读电压精度  0.5%±1V

测试特点：带设置记忆功能 开机一键测试出结果 不用反复设置

可设定测量延时和放电延时

十种自定义测量模式可以用户自己编辑开机直接调取 满足不同材料的测试需求

量程超限显示  量程上超 和量程下超

输入端子  香蕉插头，BNC 插头

精度保证期  1年 根据计量证书有效期  可在全国任意检测所检测 精度保证  

操作温度和湿度 0℃到40℃80%RH以下(无凝结)

存储温度和湿度 -10℃到60℃ 80%RH以下(无凝结)

操作环境  室内,海拔2000m

电源  电压：110V/ 220V AC 频率：47Hz/63Hz 两种供电模式

功耗  50 W

尺寸  约 331 mm x 329 mm x 80 mm

重量  约 4.1kg

绝缘电阻测试仪量程选取的原则

绝缘电阻测试仪量程选取的核心原则是‌确保测试电压与被测设备额定电压匹配，同时测量范围覆盖被测绝缘电阻的预期值

‌低压设备（≤500V）‌：选用500V或1000V测试仪‌

例如：380V以下电机、照明线路等

‌中高压设备（500V-3000V）‌：选用1000V或2500V测试仪‌

例如：500V以上电机、变压器绕组等

‌高压设备（≥3000V）‌：选用2500V或5000V测试仪‌

例如：电力电缆、特高压设备等

电阻量程选择原则

‌低压设备‌：选择0-200MΩ或0-500MΩ量程‌

‌高压设备‌：选择0-2000MΩ或0-2500MΩ量程‌

‌特高压设备‌：选择0-4000MΩ或0-10000MΩ量程

‌关键注意事项‌：

避免量程远高于实际电阻值，以免刻度密集导致读数误差‌

注意部分仪表起始刻度为1MΩ或2MΩ，不适用于潮湿环境下的低阻值测量‌

优先使被测电阻值落在仪表刻度线两个小黑点之间的准确测量区域‌

云母绝缘电阻试验仪使用方法

云母绝缘电阻试验仪的使用方法可分为以下步骤，结合操作要点与安全注意事项：一、准备工作

‌断电与放电‌
确保被测设备断电，并对电容性设备（如电缆）进行放电处理‌。

‌仪器检查‌

检查测试仪外观、电池电量及显示屏状态‌。

空载摇测验证仪表及导线是否正常‌。

‌环境要求‌
保持测试环境干燥，避免潮湿影响测量精度‌。二、接线与设置

‌正确接线‌

接地端（E）连接设备接地或可靠接地点，高压端（L）接被测部位‌。

若需测量吸收比，需连接保护端（G）‌。

‌参数设置‌

通过设置键选择测试电压（如500V）及测试时间（15秒/60秒/10分钟）‌。

部分仪器可设置绝缘电阻上下限阈值三、测量操作

‌启动测试‌
长按测试键开始测量，仪器自动记录15秒、60秒等时间点的绝缘电阻值，并计算吸收比（R60/R15）和极化指数（R10min/R1min）‌39。

‌保持稳定‌
测试过程中需保持仪器水平放置，避免晃动或接触导体部分‌12。四、结束与安全事项

‌停止与放电‌

先按停止键，再拆除测试线，并对大容量设备充分放电（至少1分钟）‌110。

放电完成后方可关机‌8。

‌数据记录‌
记录测试时的环境温度及湿度，以便后续分析‌16。注意事项

‌安全防护‌：测试时严禁接触高压线，避免触电‌210。

‌电压选择‌：根据设备额定电压匹配测试电压，避免损坏绝缘层‌211。

‌定期校准‌：确保仪器测量准确性

云母绝缘电阻试验仪多久校准一次？‌云母绝缘电阻试验仪校准周期

云母绝缘电阻试验仪的校准周期需结合设备类型、使用频率及环境条件综合确定，具体建议如下：

‌常规校准周期‌

一般建议每 ‌1年‌ 校准一次，以确保测量精度符合标准要求‌。

若仪器使用频繁（如每日或每周多次使用），或处于高湿度、高污染等恶劣环境，建议缩短至 ‌6个月‌ 校准一次‌。

‌特殊场景调整‌

新仪器同步计算两种电阻率，使用前应进行校准，投运后前6个月可缩短至 ‌3个月‌ 校准一次，以排除早期制造缺陷‌。

若仪器用于高压设备（如10kV以上）或关键电力系统，需按行业规范（如IEC 61243-1:2023）每 ‌3个月‌ 校准一次‌。

‌校准依据与方法‌

校准需采用 ‌标准电阻法‌ 或 ‌比较测量法‌，验证仪器读数与标准值的偏差‌。

校准后应记录环境温湿度及测试数据，便于后续分析‌。注意事项

校准周期需根据实际使用情况动态调整，确保误差值最小化‌。

未校准的仪器可能导致绝缘电阻测量偏差，影响设备安全评估.今天我司收到客户寄来的材料式样想到给大家解释一下材料的厚度 推荐使用北京北广精仪仪器设备有限公司生产的 BEST-380绝缘电阻测试仪

绝缘电阻测试仪本身并不直接规定能测试的最小厚度，这个极限主要取决于以下几个关键因素：

总的来说，对于商业化的绝缘电阻测试仪和标准电极系统，可以可靠测试的薄膜厚度通常在1微米以上。在科研级设备和特殊电极的辅助下，可以测量低至几十纳米甚至更薄的薄膜。

下面详细解释限制因素和可行的厚度范围：

限制最小可测厚度的关键因素

1.薄膜的击穿强度

这是最根本的物理限制。当薄膜厚度极薄时，即使施加较低的测试电压，也可能产生的电场强度（E=V/d），导致薄膜被电击穿。

示例：假设一种材料的击穿强度为100V/μm。如果要测试1μm的薄膜，安全测试电压仅为100V。如果要测试0.1μm的薄膜，安全测试电压仅为10V。而很多绝缘电阻测试仪的测试电压为10V、25V或50V，这可能已经超过了超薄薄膜的击穿阈值。

2.电极的平行度和压力均匀性

对于超薄薄膜，任何微小的不平整、灰尘或施加的压力不均，都会导致局部厚度变化，产生应力集中点或电场集中点，极易引起击穿或测量误差。

解决方案：使用真空电极，它通过负压将薄膜均匀、无损伤地吸附在电极表面，是测试超薄样品。

3.测试电压

仪器的测试电压范围必须与薄膜的击穿强度相匹配。测试超薄薄膜需要低电压档位（如10V,25V）。如果仪器电压太高，则无法安全测试。

4.电流测量精度/本底噪声

薄膜越薄，其绝缘电阻理论上越低（因为R∝1/d）。

仪器的测量下限（如0.01pA,1fA）决定了能否分辨出流过超薄薄膜的微小电流。如果仪器噪声太大，会淹没真实的测量信号。

5.环境干扰

超薄薄膜对环境极其敏感。表面污染、环境湿度、静电干扰等都会对测量结果产生巨大影响。测试必须在屏蔽、干燥的超净环境中进行。

不同场景下的可测厚度范围

常规工业质检|10μm~毫米级|使用标准三电极系统，测试电压通常为100V,250V,500V。关注的是材料在常规厚度下的绝缘性能。|

精密薄膜研发|1μm~10μm|使用高精度静电计/高阻计和带保护环的平板电极或真空电极。测试电压可能低至10V或25V，并在控温控湿箱中进行。

前沿科学研究|<1μm，可达几十纳米|使用科研级高阻计/半导体参数分析仪，配合蒸发/溅镀金属电极或专用微探针台。样品通常制备在硅片等平整基板上，电极直接镀在薄膜表面，消除了接触问题。测试环境控制极为严格。|

如何确定您的仪器和方法的极限？

1.查询仪器规格：查看您的绝缘电阻测试仪（或高阻计）的最小电流测量范围和测试电压。

2.了解材料特性：查找或测量您所用薄膜材料的击穿场强。

3.计算安全电压：根据击穿场强和您想测试的厚度，计算安全测试电压。安全电压(V)=击穿场强(V/m)×厚度(m)×安全系数(例如0.5~0.8)。

4.匹配电极系统：如果厚度很薄（例如<25μm），强烈建议使用真空电极或制备金属电极，以确保均匀接触并避免机械损伤。

结论

对于大多数应用，使用标准绝缘电阻测试仪和三电极系统，可靠测量薄膜厚度的下限大约在1微米左右。要测量更薄的薄膜（如亚微米级），则需要：

更精密的仪器（能提供低电压并测量极微弱电流）。

更专业的电极（真空电极或蒸镀电极）。

更严格的环境控制。

因此，在测试超薄薄膜前，务必评估您的材料特性、仪器能力和电极系统是否匹配。