MS系列
测量显微镜
MS结合了金相显微镜的高倍观察能力,和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能,具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。可广泛应用于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测。
实现超大行程高精度测量

精密测量工具保证结果的准确性
MS 测量显微镜采用0.1um读数的3轴测量系统,Z 轴最大行程可至150mm,利用集成在机架上的高精度电动控制器控制 Z 轴。三档不同调速可供选择,调焦可操作性强,提高效率,降低疲劳。

自主研发测量软件
MS 系列测量显微镜配备了操作简单,功能强大的测量软件,客户可根据需要设置测试偏好。配合电动转换器,倍率自动识别,减少客户手动倍率选择错误。即使对复杂的形状,也可以进行高精度的测量。

应用实例
左上:IC先进封装bumping对位精度测量
右上:IC先进封装bumping尺寸测量
左下:液晶面板TFT测量
右下:PCB版焊脚测量

报价:面议
已咨询16次病理扫描仪
报价:面议
已咨询288次显微镜
报价:¥50000
已咨询961次测量显微镜
报价:面议
已咨询14次病理扫描仪
报价:面议
已咨询496次显微镜
报价:面议
已咨询1342次
报价:面议
已咨询15次微生物扫描仪
报价:面议
已咨询91次三维显微镜
MS结合了金相显微镜的高倍观察能力,和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能,具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。
提供优越的图像质量与稳固的操作系统,操作简便、附件齐全。广泛用于教学科研、金相分析、工业检测等领域。
提供优越的图像质量和稳固可靠的机械结构,操作简便,附件齐全,广泛应用于教学科研金相分析以及工厂实验室材料检测。
操作简便,附件齐全,广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。
专为各类材料教学、日常应用和实验室基础金相学研究而设计。优异的光学系统,匹配大视野平场目镜,让学生在其金相、材料分析中能够观察到最小的细节。
CX40M以优异的成像性能、舒适的操作体验,为客户提供高性价比的金相分析及工业检测解决方案。
采用无限远光学系统,适用于铸造、冶炼等研究与材料检验。其低手位操作和360°旋转观察筒设计符合人体工程学。配备ECO红外感应系统,能在无操作时自动关机以节能。此外,前置物镜倍率显示功能通过内置传感器显示当前倍率,提升使用便捷性。
RX50M研究级金相显微镜集舜宇多项首创于一身,从外观到性能都紧跟国际领先设计风向,致力于拓展工业领域全新格局。RX50M秉承舜宇不断探索不断超越的品牌设计理念,为客户提供完善的工业检测解决方案。