材料表面的微观世界信息丰富,不同的观察方式如同不同的“灯光”,可以揭示出样品不同侧面的特征。奥林巴斯BX53正置式显微镜支持包括明场、暗场、微分干涉相衬、偏光等多种观察模式,为用户提供了从多个角度探索材料微观结构的可能,从而获取更全面的信息。
明场观察是最基础、最常用的模式。光线垂直或接近垂直地照射在样品表面,平坦区域将大部分光线反射回物镜,呈现明亮背景;而凹陷、沟槽、晶界或与基体反射率不同的相,则将部分光线散射掉,呈现较暗的衬度。这种方式对于经过适当侵蚀、不同相之间存在反射率差异的金属样品观察效果良好,是进行常规金相组织分析(如观察钢铁中的珠光体、铁素体、马氏体等)的主要方式。
暗场观察提供了另一种视角。光线以较大的倾斜角照射样品,只有被样品表面微小不规则处(如划痕、孔洞、晶界、第二相粒子)散射的光线才能进入物镜成像。因此,平坦的背景呈现黑暗,而微小的特征则呈现明亮的像。这种模式特别有利于观察样品表面的微小缺陷、非金属夹杂物,或者那些与基体反射率非常接近、在明场下难以区分的细小析出相。它就像在黑暗中用手电筒侧面照射物体,突出表面的不平整。
微分干涉相衬观察能赋予图像一种类似三维立体的浮雕感。它利用偏振光干涉的原理,将样品表面微小的高度差(纳米级别)转换为光强的明暗变化。对于抛光但未侵蚀的样品,或者表面存在微小浮雕的样品(如经过轻微蚀刻、或材料本身存在硬度差异导致抛光后产生微小起伏),DIC模式可以清晰地显示出这些高度差异,使得晶界、相界、划痕等特征更加突出,图像更具立体感和细节。
偏光观察主要用于研究各向异性材料。当光线通过起偏器变为偏振光照射到样品上,如果样品是各向异性的(如非立方晶系的金属、大多数矿物、陶瓷等),其不同晶向对偏振光的反射特性不同,在检偏器下会呈现出明暗不同的衬度或颜色。旋转载物台时,各向异性晶粒的亮度会发生周期性变化。这种模式对于识别多相合金中的不同相、观察材料的织构(晶粒择优取向)、以及进行岩相分析非常有用。
BX53正置式显微镜实现这些观察模式的切换,通常是通过更换聚光镜组件、插入相应的棱镜和滤光片来实现。其模块化的设计使得这些切换相对便捷。用户可以根据样品的特性和观察目的,灵活选择最合适的“灯光”来照亮微观世界。
掌握并合理运用这些观察模式,能够显著提升材料分析的能力和深度。例如,在观察一个未知的合金样品时,可以先使用明场模式观察其基本组织形貌;切换暗场模式,可能发现明场下不明显的细小析出物;使用DIC模式,可以更清晰地观察晶界和相界的轮廓;最后用偏光模式旋转样品,有助于鉴别具有各向异性的相。多种模式的结合使用,相当于为眼睛配备了多副不同的“眼镜”,能够更全面、更深入地解读材料所蕴含的微观信息。奥林巴斯BX53正置式显微镜提供的这种多模式观察能力,使其能够适应更广泛的材料分析需求。
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在材料科学和工业检测的众多场景中,存在着大量标准化的、重复性的显微组织观察与评定任务。