全自动高精度共聚焦拉曼系统 AutoRam C

自动高精度共聚焦拉曼系统 AutoRam C

     AutoRam C 系列支持多达三种可见激光（450、532、633 nm），是一款快速、准确且易分析易使用的全自动共焦拉曼系统。该系统采用 SMART™ Mapping 技术，实现激光控制、光学滤光片切换、光栅调整和自动对焦的全面自动化，从而提升效率和重复性。该系统支持原位光电流测量和电池循环测试，并可与Nanophotocurrent和Nanospectrum软件无缝集成，实现实时结构和电学分析。AutoRAM-C系列适用于材料科学、半导体及能源研究领域，可在紧凑型智能平台上提供高性能拉曼光谱分析。

以速度与精度革新拉曼扫描——- 振镜技术

✨ 技术概述

   振镜扫描技术采用响应速度极快的电流计式反射镜，实现激光束在样本上的快速偏转。与传统的机械载物台扫描（即移动样本本身）不同，该技术能在微秒级时间内改变光束方向，从而实现无接触、无振动的扫描，且精度可达亚微米级别。

参数说明

振镜的关键优势

Mapping 性能比较 (振镜扫描 & 位移台扫描)

振镜扫描技术

Galvo 镜像扫描是拉曼测绘的核心技术，能够实现超快速、精确和局部测量。在 Nanobase 智能™测绘平台中，该技术与电动载物台移动集成，形成一个混合系统 —— 将 Galvo 扫描的高速敏捷性与载物台测绘的广域覆盖相结合。结果是在一个平台上实现无与伦比的速度、灵活性和精度。

拉曼的逐层分析技术

技术概述

   在 Nanobase，我们凭借专有的 Slit-Binning（狭缝合并）技术，重新定义了拉曼信号的捕获方式 —— 这是一项强大的信号处理增强技术，能在不损失分辨率的前提下，显著提升灵敏度和数据质量。

   传统的 ccd 合并方法往往会牺牲信号完整性或空间分辨率。而我们的 Slit-Binning 技术则通过智能整合探测器上仅有的有效狭缝区域，消除背景噪声并优化信噪比（SNR）。即便面对极弱的拉曼信号，该技术也能生成更清晰、更锐利的光谱。

Z 轴轮廓分析能力

   我们的 Slit-Binning 共聚焦设计不仅比传统针孔共聚焦系统更易于维护，还能实现精确的 Z 轴轮廓分析，可进行详细的深度分析和逐层测量，且重复性极高。光学、机械与设计方面的创新相结合，确保了稳定可靠的拉曼性能。

应用示例：多层薄膜分析（PET/PE/EVOH/PE）Z 步长：0.3μm / 曝光时间：1 秒 / 深度范围：0-60μm EVOH 的峰值约为 1061 cm-1，PET 的峰值约为 1617 cm-1。

拉曼 Mapping 实时自动对焦功能

技术概述

  Live-Focus 是 Nanobase的实时激光自动对焦功能，由其专属的激光自动对焦模块提供技术支持。这一智能系统在扫描过程中会持续追踪并自动调整激光的焦点，即便面对倾斜、不平整或有结构化的表面，也能确保始终处于对焦状态。

• 测量性能可能会受到所用激光功率的限制。

• 对于表面反射率低的样品，或因表面粗糙而产生漫反射的样品，其性能可能会受到限制。

  
  

实时对焦应用实例

拉曼智能  Mapping

技术概述

   Nanobase 拉曼系统提供三种不同的扫描模式，每种模式都针对特定的分析需求和空间分辨率进行了优化。从快速表面检测到高分辨率映射，这些模式使研究人员能够在不影响数据质量的情况下调整他们的测量策略。

• 我们系统的核心是一种混合扫描机制，它结合了用于快速光束转向的 Galvo 和用于精确移动的电动载物台。

• Galvo 镜面可实现快速光斑切换和高速扫描，而电动载物台可提供精确定位和大面积测绘。

• 这种双重方法与内置自动对焦一起确保了整个测量范围内的清晰对焦和清晰成像。

适应任何样品尺寸或分辨率

   从微结构的亚微米空间分辨率到大面积样品，Nanobase 系统无缝适应各种研究场景。无论您是执行快速评估还是进行深入的表面分析，您都可以微调扫描策略以满足您的分析目标。

纯拉曼信号的传输 VPH 光栅

技术概述

    Nanobase 拉曼光谱仪的核心是透射体相位全息（VPH）光栅，这是一种关键的光学元件，能够以蕞小的噪声实现卓 越的灵敏度。与传统的反射光栅不同，透射 VPH 光栅通

过全息记录的体相位结构来分散光。这种独特的设计提供了几个优势：

- 高衍射效率：极大限度地提高信号吞吐量，确保即使是蕞微弱的拉曼信号也能得到保留。

- 低杂散光：减少不需要的背景光，提高光谱对比度和信噪比（SNR）。

- 蕞小重影：提供更干净的光谱，没有反射光栅设计中经常出现的伪影。

- 紧凑的光学路径：允许更稳定的对齐和减少光学像差

可更换光栅的光谱仪

我们的光谱仪还可以轻松更换具有不同凹槽密度（lpmm）的光栅。这种灵活性使用户能够针对特定应用优化光谱分辨率和波长范围 —— 无论是优先考虑细节还是更广泛的覆盖范围。

技术参数

光谱仪（XPE35 VS XPE50C）的性能比较

应用领域

石墨烯，二维材料，生物样本，半导体工业，碳纳米管，碳材料，太阳能电池，储能材料，纳米纤维分布，探测器光电性能检测，晶圆体分析，制药分析，纳米材料检测，生物细胞成像，微塑料检测，金刚石微粉检测

应用案例

Ø泰诺药片拉曼谱图

Ø二硫化钼光学图和拉曼成像图

Ø二硫化钨光学图和拉曼谱图和拉曼成像图

Ø  显微镜下的光学图和拉曼成像（Raman spectrum Measurement & Raman Imaging）

光学成像图                                  Raman mapping                                   拉曼成像图

Ø  拉曼成像光谱和光致发光PL（Raman Imaging &Photoluminescence Imaging ）

WS2拉曼光谱图                                                                     WS2 光致发光（PL）谱图

Ø  稳态荧光成像和瞬态荧光时寿命（fluorescence Lifetime Measurement &Imaging ）

 稳态荧光成像图                                                   tcspc 瞬态荧光成像(FLIM)

Ø  光电流成像（Photocurrent Measurement and Imaging ）

光电流系统探针台                                                                        光电流成像图