电容器纸介电常数损耗测试仪

电容器纸介电常数损耗测试仪高精度:宽带自动调零自动平衡电桥技术，四端对测试配置

高稳定性和一致性

高速度:达2.5ms的测试速度

高分辨:10.1英寸电容式触摸屏，分辨率1280*800

点测、列表扫描、图形扫描、等效电路分析、晶振分析

五种测试方式

1601点多参数列表扫描功能

基本阻抗精度:典型值≤±0.045%

电容器纸介电常数损耗测试仪具有多种功能和更高测试频率的新型LCR数字电桥，体积小，紧凑便携，便于上架。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率高500kHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。测量无源器件的误差低至0.05％，仪器易于，安装、调整和校准都非常快捷，是进货检验，质量控制，自动化测试等应用的理想选择。

主要功能与优势：

‌频率扫描分析‌：绘制阻抗-频率、介电常数-频率曲线，识别弛豫峰、极化机制。

‌温度依赖性测试‌：配合温控夹具，研究液体在–55°C至+150°C范围内的介电变化 。

‌直流偏置功能‌：施加±40V偏压，模拟实际工作环境，适用于电池电解液、电容器浸渍液等测试 。

‌高精度测量‌：基本精度可达±0.05%，阻抗范围覆盖mΩ至TΩ级 。典型应用场景：

‌电池行业‌：分析锂离子电池电解液的离子迁移率与界面阻抗。

‌制药与生物‌：监测细胞培养液、缓冲液的离子稳定性，或用于生物组织模拟液研究。

‌电力绝缘‌：检测变压器油、电容器浸渍液的介电性能，评估老化程度。

‌食品工业‌：鉴别油脂品质、乳制品均一性或饮料中离子含量。

介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对绝缘材料进行 高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～1Mhz 2Mhz 5Mhz(选配）, 三种选项它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。

介电常数测试仪中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数可以直接不用人工计算得到。

核心性能‌：采用双CPU架构和数字信号处理技术，典型测量精度达0.05%，支持20Hz-2MHz宽频测量，可量化电感、电容、电阻等参数，并具备ESR测量和品质因数Q值分析功能‌

应用场景‌：适用于电路板故障检测，能通过寄生参数异常分析定位元件漂移问题‌。

技术优势‌：基于自动平衡电桥原理，基本精度0.05%，测试速度快5.6ms/次，支持20V交流信号和±40V直流偏置，阻抗测试范围达1GΩ‌高频介质损耗测量补充

对于更高频或特殊介质材料（如陶瓷、液体），可结合Q表与专用夹具

应用场景适配‌

‌研发/实验室‌：选择带图形化分析功能的；

‌生产质检‌：需分选功能和HANDLER接口；

‌现场检测‌：便携式系列更灵活。

‌陶瓷阻抗分析检测仪‌是一种专门用于测量陶瓷材料在不同频率下介电性能和阻抗特性的精密电子仪器，广泛应用于压电陶瓷、超声换能器、MLCC（多层陶瓷电容器）等器件的研发、生产与质检环节 。

这类仪器通过施加交流信号，测量材料的复数阻抗，进而计算出谐振频率（Fs）、反谐振频率（Fp）、介电常数（ε）、介质损耗（tanδ）、动态电容（C1）、机械品质因数（Qm）等关键参数，帮助评估材料性能与器件匹配性 。

目前市面上主流的陶瓷阻抗分析仪频率范围通常覆盖 ‌20Hz～2MHz‌ 或更高，精度可达 ‌0.05%‌，支持导纳圆图、阻抗曲线等多种图形化分析方式，便于直观判断陶瓷内部是否存在分层、裂纹等缺陷 。

关键注意事项

‌校准与误差控制‌：标准电阻校准可提升精度，尤其对毫欧级阻抗测试‌；

‌阻抗范围匹配‌：高频陶瓷电容需恒定电平测试，大电感需带直流偏置电流源；

‌预算平衡‌:北广精仪GDAT系列性价比优于进口品牌，但条件下（如太欧阻抗）需更型号‌

验证测试需求‌：电解电容仅需100Hz/120Hz，而薄膜电容需100kHz双频测试；

‌接口兼容性‌：优先选支持USB以适配现有系统‌

宽频率范围，从20 Hz到3 GHz

在多个频率点进行连续测试的频率列表扫描

在高阻抗和低阻抗范围内，测量精度

配件种类齐全，非常适合测试含铅元件、表面贴装元件、半导体和材料

快速测量速度，具有的测量重复性

120 Hz、1 kHz和1 MHz测试频率

高速测量：2.3 ms（1 MHz），3.0 ms（1 kHz） 11.0 ms (120 Hz)

基本精度C：0.07%，（典型值±0.042%) D：0.0005（典型值 ±0.0003)

适用于生产测试的处理器和扫描仪接口

测量参数：C、D、Q、ESR、G

测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数可以直接不用人工计算得到。

核心性能‌：采用双CPU架构和数字信号处理技术，典型测量精度达0.05%，支持20Hz-2MHz宽频测量，可量化电感、电容、电阻等参数，并具备ESR测量和品质因数Q值分析功能‌

应用场景‌：适用于电路板故障检测，能通过寄生参数异常分析定位元件漂移问题‌。

技术优势‌：基于自动平衡电桥原理，基本精度0.05%，测试速度快5.6ms/次，支持20V交流信号和±40V直流偏置，阻抗测试范围达1GΩ‌高频介质损耗测量补充

对于更高频或特殊介质材料（如陶瓷、液体），可结合Q表与专用夹具

应用场景适配‌

‌研发/实验室‌：选择带图形化分析功能的；

‌生产质检‌：需分选功能和HANDLER接口；

‌现场检测‌：便携式系列更灵活。关键注意事项

‌校准与误差控制‌：标准电阻校准可提升精度，尤其对毫欧级阻抗测试‌；

‌阻抗范围匹配‌：高频陶瓷电容需恒定电平测试，大电感需带直流偏置电流源；

‌预算平衡‌:北广精仪GDAT系列性价比优于进口品牌，但条件下（如太欧阻抗）需更型号‌

验证测试需求‌：电解电容仅需100Hz/120Hz，而薄膜电容需100kHz双频测试；

‌接口兼容性‌：优先选支持USB以适配现有系统‌

宽频率范围，从20 Hz到3 GHz

在多个频率点进行连续测试的频率列表扫描

在高阻抗和低阻抗范围内，测量精度

配件种类齐全，非常适合测试含铅元件、表面贴装元件、半导体和材料

快速测量速度，具有的测量重复性

120 Hz、1 kHz和1 MHz测试频率

高速测量：2.3 ms（1 MHz），3.0 ms（1 kHz） 11.0 ms (120 Hz)

基本精度C：0.07%，（典型值±0.042%) D：0.0005（典型值 ±0.0003)

适用于生产测试的处理器和扫描仪接口

测量参数：C、D、Q、ESR、G

阻抗分析仪是一种用于测量复数阻抗随频率变化特性的精密电子测试仪器，广泛应用于电子元器件、材料科学、生物医学及工业检测等领域。它通过施加正弦激励信号，同步测量电压与电流的幅值和相位差，进而计算出阻抗（|Z|）、相位角（θ）、电阻（R）、电容（C）、电感（L）、损耗因子（D）和品质因数（Q）等参数。现代阻抗分析仪通常具备宽频扫描能力，频率范围可从毫赫兹（mHz）延伸至吉赫兹（GHz），适用于不同材料和器件在各种工作条件下的特性表征。主要技术参数与功能特点

‌频率范围‌
频率是决定阻抗分析仪应用能力的核心指标。不同测试对象需匹配相应频率范围：

一般电子元件测试：20 Hz ~ 120 MHz（如Agilent 4294A）

高频材料与半导体分析：1 MHz ~ 3 GHz（如是德科技E4991B）

超高频介电材料测试：1 MHz ~ 3 GHz（如超高频阻抗分析仪）

极低频扫描：可低至10 μHz（适用于高精度材料研究）

‌阻抗测量范围与精度‌

典型阻抗范围：毫欧级（mΩ）至太欧级（TΩ），部分设备可达100 TΩ

基本测量精度：高精度型号可达±0.045%（如Keysight E4990A），部分可达0.08%

小可测电容：<1 pF，适合微小电容元件分析

‌测量参数多样性‌
支持多种参数输出，包括：

基本参数：|Z|、R、X、L、C、D、Q、θ

复数参数：复数阻抗Z、导纳Y

材料参数：介电常数（εr）、磁导率（μr）等，部分仪器可直接读取

‌等效电路分析功能‌
提供多模型拟合（如7种基本等效电路模型），帮助用户解析复杂器件的内部结构，提升研发与故障分析效率。

‌直流偏置与扫描功能‌

内置直流偏置源（0~±40 V 或 0~±100 mA），支持在偏压条件下测试电容器、铁电材料等

支持频率、电压、电流、温度等多种扫描模式，实现动态特性分析

‌接口与自动化支持‌
配备USB、GPIB、LAN等通信接口，支持计算机控制与数据导出，便于集成到自动测试系统中。典型应用场景

‌电子元件测试‌：电容、电感、电阻的质量检测与分选；压电陶瓷、超声波换能器的频率响应分析

‌电路与系统设计‌：PCB走线阻抗匹配验证；射频模块（如天线、滤波器）的调试优化

‌材料科学研究‌：介电常数、磁导率等电磁特性的表征；导电涂料、抗静电材料性能评估

‌生物医学应用‌：人体体成分分析（脂肪率、肌肉量）；细胞阻抗谱用于疾病诊断或药物筛选

‌工业检测‌：硅酸盐熔体电导率测量、涂层材料老化分析等

GDAT-S是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。

◎可直接得到介电常数和介质损耗 不用人工计算

◎可测试电阻

◎ 4.3寸TFT液晶显示

◎ 中英文可选操作界面

◎ 高5MHz的测试频率

◎ 平衡测试功能

◎ 变压器参数测试功能

◎ 高测试速度:13ms/次

◎ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能

◎ V、I 测试信号电平监视功能

◎ 内部自带直流偏置源

◎ 可外接大电流直流偏置源

◎ 10点列表扫描测试功能

◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻

◎ 内建比较器，10档分选和计数功能

◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存

◎ 测量数据可直接保存到U盘

◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。

◎ 介电常数测量范围可达1～105

验证测试需求是否满足的核心方法

‌需求评审与追踪‌

通过正式评审、走查或专家审查，确认测试需求与原始需求（如SRS文档）的一致性，并需求追踪工具（如DOORS）确保每个测例对应到具体需求条目。

检查测试需求的‌正确性‌（无歧义）、‌完整性‌（覆盖所有功能/非功能需求）及‌优先级‌（关键需求优先验证）。

‌原型与测例验证‌

设计原型或模拟环境，将测试需求转化为可执行的测例，通过实际测试验证需求是否被正确实现。

例如，对软件性能需求需设计压力测例，验证响应时间等指标是否达标。

‌用户参与与测试反馈‌

请用户参与验收测试（如α/β测试），真实数据验证需求是否符合实际场景，并收集用户反馈以修正偏差。验证流程与关键步骤

‌制定验证计划‌：明确验证范围（如功能、性能）、方法（评审/测试）及通过标准。

‌执行验证活动‌：

采用自动化工具管理测例执行，记录缺陷并分析根本原因。

对复杂需求（如容错性），需设计异常场景测试（如断电恢复）。

‌问题闭环与复测‌：修复缺陷后重新验证，直至所有测试需求通过。注意事项

‌独立测试‌：由独立测试小组执行验证，避免开发人员主观偏差。

‌文档完整性‌：确保测试报告、需求追踪矩阵等文档齐全，作为验收依据。

精密LCR阻抗分析仪的校准是确保测量精度的关键步骤，需通过开路、短路及负载校准消除系统误差。以下是具体校准流程和注意事项：一、校准原理与步骤

‌开路校准‌
消除测试夹具与被测件并联的杂散导纳（如分布电容），需将测试端可靠开路后执行校准‌

‌短路校准‌
消除串联的残余阻抗（如引线电阻、电感），需用低阻抗短路片或导线牢固短接测试端后校准‌。‌负载校准（可选）‌
标准器件作为参考，通过传递系数补偿其他误差，适用于更高精度需求场景‌。二、校准注意事项

‌环境稳定性‌：温度、湿度变化或更换夹具后需重新校准‌。

‌接触可靠性‌：短路校准需确保夹具导通良好，避免接触不良引入误差‌。

‌频率选择‌：点频校准（单频率）或扫频校准（全频率范围）根据需求选择‌。三、校准后验证

测量已知标准件（如精密电阻、电容）验证结果一致性‌。

高频测量时需注意屏蔽干扰，推荐四端对开尔文夹具减少寄生参数影响‌。

通过上述校准可显著提升测量精度，尤其对低阻抗（如mΩ级）或高阻抗（如MΩ级）元件更为关键‌精密LCR阻抗分析仪的维护保养指南一、日常维护要点

‌环境控制‌

仪器应置于干燥、通风环境中，避免潮湿、灰尘及腐蚀性气体，长期不用时需用防尘罩覆盖并内置防潮硅胶‌。

避免剧烈振动或撞击，搬运时轻拿轻放，防止内部元件位移或损坏。

‌清洁与防静电‌

外壳清洁中性清洁剂和软布，禁止有机溶剂（如乙醇、丙酮）擦拭显示屏或光学部件‌。

测试夹具和探针需定期用酒精清洁，防止氧化导致接触不良‌。二、校准与性能验证

‌定期校准‌

每季度至少进行一次开路、短路及负载校准，标准件（如精密电阻、电容）验证测量精度‌。

更换夹具或环境温湿度变化后需重新校准‌。

‌功能检查‌

开机前检查电源线、接地线及接口连接状态，避免接触不良或过载‌。

通过测量已知标准件（如标称值电容）验证数据一致性，若偏差超过允许范围需返厂检修‌。三、故障预防与处理

‌常见问题应对‌

‌电源异常‌：检查插座供电或电池电量，过载保护触发时需断电静置后重启‌。

‌显示异常‌：黑屏/花屏可能为供电故障，字符乱码需重启或更新固件‌。

‌数据负值‌：检查测试频率是否过高（如电容测量建议100Hz-120Hz）或接线是否反接‌。

‌长期存放维护‌

每月通电1-2次，每次30分钟，防止电解电容老化或电路板受潮‌。

取出干电池避免漏液腐蚀电极，定期更换干燥剂‌。四、专业维护建议

复杂故障（如主板烧毁、信号源异常）需联系厂商或专业维修人员，禁止自行拆解。

保留原厂配件（如测试线、校准件）以备维修。

通过以上措施可显著延长仪器寿命并保障测量精度‌数字LCR电桥分析仪工作原理一、核心原理

数字LCR电桥通过测量被测元件（电感L、电容C、电阻R）的电压与电流矢量关系，结合欧姆定律计算阻抗参数‌12。其核心步骤如下：

‌信号激励‌：内置正弦信号源产生特定频率（如100Hz-100kHz）和幅度的交流电，施加于被测元件‌。

‌矢量检测‌：通过相敏检波技术同步测量电压与电流的幅值及相位差，转换为数字信号‌。

‌阻抗计算‌：根据公式 Z=V/IZ=V/I（复数形式）推导出阻抗模值、相位角，进而分解为串联/并联等效参数（如 LsLs、CpCp、RsRs）‌二、关键技术演进

‌从传统电桥到数字电桥‌：早期采用物理电桥平衡法，现代设备通过高速运算放大器和微处理器实现数字化测量，精度提升至0.1%以下‌。

‌四端测量法‌：采用HD（激励正极）、LD（激励负极）、HS（检测正极）、LS（检测负极）四端口结构，消除引线电阻误差‌。

‌等效模型选择‌：支持串联（如 LsLs、RsRs）和并联（如 LpLp、RpRp）模型，根据元件特性自动切换‌。三、典型应用场景

‌电感测量‌：通过 Ls−QLs−Q 模式获取感值与品质因数，测试频率通常为1kHz-100kHz‌。

‌电容测量‌：电解电容需低频（如120Hz），薄膜电容则需高频（如10kHz）‌。

‌电阻测量‌：区分直流电阻（RdRd）与交流阻抗（ZZ），适用于功率器件分析‌四、技术优势

‌高精度‌：采用标准电阻和石英振荡器校准，误差可控制在0.02%以内。

‌智能化‌：支持自动量程、偏置电压测试及多参数混合显示‌。

‌抗干扰‌：运算放大器虚地设计显著提升信噪比‌

ε和D性能：

固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。

ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进

测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度 ;0.1%

显示范围 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

显示范围 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

测量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准

等效方式 :串联方式, 并联方式

量程方式:自动, 保持

显示方式 :直读, Δ, Δ%

触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能:10档分选及计数功能

显示器;320×240点阵图形LCD显示

存储器 :可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）

工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，

精度：±0.02%

电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显

电容测量基本误差：±0.05%

损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显

介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样测量。

它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

微分头分辨率：10μm

高耐压：±42Vp（AC+DC）

电缆长度设置：1m

高频率：5MHz （选配）

阻抗分析仪

五种频率选项：20 Hz至10/20/30/50/120 MHz，可升级

±0.08%（典型值±0.045%)基本阻抗测量精度

25 mΩ至40 MΩ的宽阻抗测量范围 （测量精度范围为10%）

测量参数：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q。 复数Z，
复数Y，Vac，Iac，Vdc，Idc

内置直流偏置范围：0 V至±40 V，0 A至±100 mA

4通道和4条轨迹显示在10.4英寸彩色LCD触摸屏上

数据分析功能：等效电路分析、极限线测试

LCR阻抗分析仪的关键词可分为以下几类：一、核心功能关键词

‌阻抗分析‌：测量电阻、电感、电容的复数阻抗特性‌

‌LCR测试‌：专用于电感（L）、电容（C）、电阻（R）的元件参数测量‌

‌频率范围‌：如20Hz-130MHz、50Hz-100kHz等，不同型号覆盖不同频段

‌精度等级‌：如0.01%、0.05%等，反映测量准确度二、技术特性关键词

‌直流偏置‌：支持偏置电流源

‌扫描测试‌：支持频率扫描或参数扫描分析‌

‌夹具适配‌：弹性夹具（引线元件）、贴片夹具（SMD元件）

‌防静电设计‌：适用于敏感元件的测试环境三、应用场景关键词

‌元器件测试‌：电容、电感、电阻的批量检测

‌磁性材料分析‌：如半导体、磁性材料的阻抗特性研究‌

‌电子‌：电缆、电子元件的性能验证四、辅助功能关键词

‌上位机软件‌：支持数据统计分析

‌接口协议‌：RS-232、USB、LAN、GPIB等通信接口‌

‌校准补偿‌：高精度测试必需的步骤