SpecMetrix® FWS 膜重测试站

功能和优点

• 灵活快速 – 模块化设计，具备从质量控制实验室到生产车间的即时膜重测量能力。
• 非接触式 – 测量过程中不接触涂层或基材，保持样品和部件的完整性。
• 绝对厚度测量 – 超高精度的实时涂层和膜厚度测量，加速样品测试、数据收集和质量分析。
• 基材独立 – 适用于湿样或干样的透明、有色或着色基材的测量。
• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，精度达到亚微米级。
• 高度精确 – 相比浮动探头，膜重测量工具更快且更精确。
• 无危害性 – 采用独特的非放射性和非侵入性的ROI和EXR增强光学干涉技术。
• 环保 – 非破坏性测试方法有助于减少废料、返工劳动力和能源成本。
• 强大的SensorMetric软件 – 用户友好的软件包自动将所有数据存储到Excel®或工厂网络中。
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• 简化质量控制流程
  
  SpecMetrix®膜重测试站旨在简化质量控制测试，并改善对膜重和涂层厚度的过程控制。由于其无与伦比的能力，能够以亚微米级精度识别和量化绝对膜重厚度，它是我们实验室测量工具之一。
  
  膜重测试站系统加速了离线薄膜测试，并改善了来料和成品检验。
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• 多功能测量能力
  
  SpecMetrix®膜重测试站提供可靠且可重复的测量：
  

• 精确快速地分析膜重
• 非接触、非破坏性测量 – 确保样品的完整性
• 测量湿样或干样，以及透明或有色着色基材
• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，精度可达到亚微米级
• 完整的涂层洞察
  
  SpecMetrix®膜重测试站提供了可靠性和可重复性，允许用户获取准确的涂层测试数据和质量控制。
  
  凭借SpecMetrix的精确和创新的ROI增强光学干涉技术，用户可以为其产品和样品获取完整的膜重和涂层测量数据。我们的技术将允许您通过非接触和非破坏性手段获得涂层测量。
  
  
  
• 强大的SpecMetrix软件
  
  SpecMetrix配套的软件功能强大，用户界面友好。所有实时测量数据可存储至Excel®文件，或直接对接工厂网络系统，实现生产过程中的SPC统计过程控制分析。每一批次的测量数据都可以形成完整的质量控制记录，便于应对后续的质量查询或索赔问题。
  
• 技术参数
  
  规格
  SKU:
  
  应用： 光学测试, 油墨与涂料, 涂层检测, 涂层测试
  
  材料： 油墨和涂料
  
  测量范围: 0.2至250微米（涂层厚度）
  
  精度: 涂层厚度的±1%（标称值）* 基于使用NIST可追溯的厚度标准进行的整个测量范围（0.2至250微米）的精度验证
  
  测量速度: 每秒最多100次
  
  温度范围: 0°至45°C
  
  输出指标: 微米、密耳、mg/in²、mg/4in²、g/m²、mg/cm²、lbs/令
  
  操作系统: Windows®平台
  
  制造: 美国制造
  
  认证: CE认证、UL认证和CSA认证