理学组合型多功能水平X射线衍射仪Ultima Ⅳ

光学系统调整自动化大幅缩短简化了切换光学系统所需的时间和程序，提高整体效率；

CBO技术具有高度灵活性应用于所有粉末多晶材料评价

样品位置自动调整，和In-Plane测试相结合高分辨率的应力选择取向测试简便化

CBO技术和无需更系统的In-Plane扫描实现的薄膜评价系统

新开发的In-situ可以在特殊条件下测试

利用CBO和自动调整装置，仅添加附件即可对纳米材料小角散射测试

主要的应用有：
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析